[发明专利]一种具有p层特殊掺杂结构的外延生长方法有效
申请号: | 201410105868.8 | 申请日: | 2014-03-20 |
公开(公告)号: | CN103854976B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 王晓波 | 申请(专利权)人: | 西安神光皓瑞光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 胡乐 |
地址: | 710100 陕西*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 特殊 掺杂 结构 外延 生长 方法 | ||
技术领域
本发明属于光电器件材料制备和结构设计技术领域,具体涉及一种LED外延掺杂生长方法及其外延片结构。
背景技术
Ⅲ族氮化物半导体材料以其优异的特性正在发挥着越来越广泛的作用,具有禁带宽度大、电子漂移饱和速度高、介电常数小、导热性能好等特点,非常适合于制作抗辐射、高频、大功率和高密度集成的电子器件;利用其特有的禁带宽度,还可以制作蓝、绿光和紫外光的发光器件和光探测器件。经过近十几年的发展,GaN基蓝光LED已成功实现商业化,在景观灯、背光源、照明灯领域都得到广泛应用。
随着Ⅲ族氮化物器件研究和应用的深入,GaN基光电器件对材料性能提出了更高的要求。对于LED器件,为了提升增强量子效率、降低非发光复合、减少缺陷对光子的吸收,需要有高结晶质量、低缺陷密度材料的外延技术和高性能的p型掺杂技术,尤其是p层的掺杂技术,一直以来都是制约LED商业化应用和提升发光效率的技术瓶颈。
目前LED的p层都采用在GaN中掺入镁元素,通过退火来激活镁受主,但是由于镁的激活能较高,电离率低,难以产生高的载流子浓度,且受生长条件影响大,掺杂过程容易产生缺陷降低材料的质量。所以作为LED器件生长过程中的关键,改善p层的掺杂效率,降低受主的激活能,优化p层材料的晶体质量,提升载流子浓度被越来越多的研究和关注。
发明内容
为了解决现有技术存在的问题,本发明提供一种新的LED外延生长方法,具有p层特殊掺杂结构,能够很好地改善p层材料的晶体质量,减少缺陷的产生,还可以提升载流子的浓度,增大复合发光效率,提升LED器件的光电转换效率;同时由于其p层的电导率的改善和面缺陷的减少,很大程度改善了LED器件的可靠性。
本发明的基本方案如下:
该外延生长方法,包括以下步骤:
(1)在蓝宝石衬底上生长低温GaN层;
(2)生长高温GaN层;
(3)生长高温GaN掺杂硅烷n型层;
(4)生长掺硅烷的n型AlGaN层;
(5)生长多个周期的GaN/InGaN量子阱层;
(6)生长掺杂镁的p型AlGaN层;
(7)生长多个GaN/AlGaN周期结构的超晶格层;
(8)掺镁的GaN层,作为接触层;
(9)最后在氮气氛围下退火;
其中,步骤(7)的多个GaN/AlGaN周期结构的超晶格层中,GaN层双掺杂镁和硅烷,AlGaN层除了掺杂镁和硅烷元素外,还采用氨气delta掺杂。
以上所称的“高温”、“低温”在本领域是具有明确意义的技术术语。
基于上述基本方案,本发明还做如下优化限定:
在步骤(7)进行GaN层、AlGaN层双掺杂镁和硅烷的过程中,掺杂镁元素与硅元素的摩尔比为10:1-15:1。
步骤(7)总共生长10-20个周期的GaN/AlGaN超晶格层,每个周期的GaN层和AlGaN层厚度均小于2nm。
步骤(7)中的每个周期,在950℃生长GaN层,然后升温至1000℃生长AlGaN层。
步骤(7)中的每个周期进行生长AlGaN层,是控制CP2Mg和SiH4的流量不变,NH3脉冲式通入,周期性地通入5s,再关闭3s,直到生长完该AlGaN层,即控制这个周期的AlGaN层厚度在2nm以下。
相应的,按照上述方法制得的LED外延片结构,主要包括依次生长的以下各层:
蓝宝石衬底;
低温GaN层;
高温GaN层;
高温GaN掺杂硅烷n型层;
掺硅烷的n型AlGaN层;
多个周期的GaN/InGaN量子阱层;
掺杂镁的p型AlGaN层;
多个GaN/AlGaN周期结构的超晶格层;
掺镁的GaN层,作为接触层;
在所述多个GaN/AlGaN周期结构的超晶格层中,GaN层双掺杂镁和硅烷,AlGaN层除了掺杂镁和硅元素外,还以氨气delta掺杂方式掺加氮元素。
在所述多个GaN/AlGaN周期结构的超晶格层中,掺杂镁元素与硅元素的摩尔比优选10:1-15:1。
优选确定为总共10-20个周期的GaN/AlGaN超晶格层,每个周期的GaN层和AlGaN层厚度均小于2nm。
本发明的有益效果如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安神光皓瑞光电科技有限公司,未经西安神光皓瑞光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410105868.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造