[发明专利]存储器测试系统及方法

权利要求书

1.一种存储器测试系统，包含：

一存储器装置，包括具有多个存储库的一存储器芯片、多个输入电路与多个输出电路，其中每个存储库具有多个存储单元，每个输入电路皆具有一第一输入接脚及一第二输入接脚，该多个输入电路的该等第一输入接脚用以读取储存于该多个存储库的该等存储单元的多笔数据，该等第二输入接脚用以接收自该多个存储库输出的一压缩结果信号，并且该多个输入电路根据该压缩结果信号输出多个压缩信号；

一探针卡，该探针卡电性连接于该输出电路；

一测试器，该测试器电性连接于该探针卡；

其中该等输出电路接收自该等输入电路输出的多个压缩信号，并且该等输出电路根据该多个压缩信号输出多个压缩输出信号，该探针卡混合多个压缩输出信号以输出一混合压缩输出信号至该测试器。

2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该等输入电路为多个缓冲器。

3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该等第一输入接脚为多个输入/输出接脚。

4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该等输出电路为多个芯片外驱动器。

5.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该存储器装置为一动态随机存取存储器装置。

6.一种存储器测试方法，执行于一存储器测试系统，该存储器测试系统包含一存储器装置、一探针卡与一测试器，其中该存储器装置包含具有多个存储库的一存储器芯片、多个输入电路与多个输出电路，该存储库中具有数个存储单元，每个输入电路皆具有一第一输入接脚及一第二输入接脚，该等输出电路分别电性连接于该等输入电路，且该存储器测试方法的步骤包含：

将一压缩测试信号输入与储存至该等存储库的该等存储单元；

通过该等第二输入接脚，该等存储库输出一压缩结果信号至该等输入电路，其中该压缩结果信号相关于该压缩测试信号；

自该等输入电路根据该压缩结果信号输出多个压缩信号至该等输出电路；

自该等输出电路根据该多个压缩信号输出多个压缩输出信号至该探针卡；

于该探针卡中，混合该等压缩输出信号，以产生一混合压缩输出信号；

该探针卡输出该混合压缩输出信号至该测试器；

于该测试器中，检查该混合压缩输出信号是否与该压缩测试信号一致。

7.根据权利要求6所述的存储器测试方法，其中该等输入电路为多个缓冲器。

8.根据权利要求6所述的存储器测试方法，其中该等第一输入接脚为多个输入/输出接脚。

9.根据权利要求6所述的存储器测试方法，其中该等输出电路为多个芯片外驱动器。

10.根据权利要求6所述的存储器测试方法，其中该存储器装置为一动态随机存取存储器装置。