[发明专利]测试有机发光显示面板的方法、母基板测试装置和方法

权利要求书

1.一种测试有机发光显示面板的方法，所述方法包括：

在所述有机发光显示面板的封装层上设置导电板；

在所述有机发光显示面板的公共电极与所述导电板之间施加偏压；以及

确定所述有机发光显示面板中是否存在缺陷。

2.如权利要求1所述的方法，还包括将力施加至所述导电板。

3.如权利要求1所述的方法，其中施加偏压包括将接地电压施加至所述导电板和将负的偏压施加至所述公共电极。

4.如权利要求1所述的方法，其中所述导电板包括薄膜导电带。

5.如权利要求1所述的方法，还包括老化所述有机发光显示面板。

6.如权利要求5所述的方法，其中老化所述有机发光显示面板包括：

向所述有机发光显示面板施加热；以及

向所述有机发光显示面板提供老化信号。

7.如权利要求1所述的方法，其中确定缺陷包括：

打开所述有机发光显示面板；以及

检查由所述有机发光显示面板提供的图像中是否出现暗斑。

8.如权利要求1所述的方法，其中所述封装层为薄膜封装层。

9.一种用于测试母基板的母基板测试装置，所述母基板上形成有多个有机发光显示面板，所述母基板测试装置包括：

底板，支承所述母基板；

信号供给单元，包括多个电极销，并且将电信号提供给所述母基板的焊盘单元；以及

导电板，与所述母基板的顶面接触，

其中，经由所述多个电极销中的至少一个电极销和所述导电板向所述母基板施加偏压，以将电场施加至所述多个有机发光显示面板的封装层。

10.如权利要求9所述的母基板，其中所述导电板连接至接地电压源。

11.如权利要求9所述的母基板测试装置，其中所述至少一个电极销将负的偏压提供给与所述多个有机发光显示面板的公共电极共同连接的配线。

12.如权利要求9所述的母基板测试装置，其中所述导电板包括薄膜导电带。

13.如权利要求9所述的母基板测试装置，其中所述导电板包括：

多个导电单元，对应于所述多个有机发光显示面板的显示单元；以及

绝缘单元，设置在所述多个导电单元之间并且具有网格形式。

14.如权利要求9所述的母基板测试装置，还包括按压单元，所述按压单元按压所述导电板以允许所述导电板紧密地附接至所述封装层。

15.如权利要求9所述的母基板测试装置，其中在所述偏压被施加之后，电压经由所述多个电极销被供给所述母基板以老化所述多个有机发光显示面板。

16.如权利要求9所述的母基板测试装置，还包括加热器，所述加热器与所述底板组合并将热提供给所述母基板。

17.一种测试母基板的方法，所述方法包括：

将所述母基板设置至底板，所述母基板上形成有多个有机发光显示面板；

将导电板设置在所述有机发光显示面板的封装层上；

在所述导电板与所述母基板的配线中与所述多个有机发光显示面板的公共电极电连接的配线之间施加偏压；以及

确定所述多个有机发光显示面板中具有缺陷的有机发光显示面板。

18.如权利要求17所述的方法，还包括将按压构件应用在所述导电板上。

19.如权利要求17所述的方法，还包括老化所述多个有机发光显示面板。

20.如权利要求19所述的方法，其中所述老化包括：

将热经由与所述底板组合的加热器供给所述底板；以及

将老化信号提供给所述多个有机发光显示面板。