[发明专利]测试有机发光显示面板的方法、母基板测试装置和方法

说明书

优先权要求

本申请参考于2013年4月25日向韩国专利局递交且适时转让的第10-2013-0046209号较早申请，将该韩国申请的全部内容并入本文，并要求该韩国申请的优先权。

技术领域

本发明涉及测试有机发光显示面板的方法、母基板测试装置和测试母基板的方法，更具体地，涉及测试有机发光显示面板的可靠性的方法和测试装置。

背景技术

有机发光显示装置不需要单独的光源，因此可工作在低电压、重量轻且细薄。而且，希望有机发光显示装置因其高质量特性（例如，宽视角、高对比度和快速响应时间）成为下一代显示装置。

有机发光显示装置因外部湿气或氧气而劣化，因此为了保护有机发光设备，有机发光设备被封装。为了确保有机发光显示装置的细薄性和/或柔韧性，使用包括多个无机层和/或有机层的多个层的薄膜封装结构封装有机发光设备。

发明内容

本发明提供了测试有机发光显示面板的可靠性的方法。

本发明还提供了测试包括多个有机发光显示面板的母基板的可靠性的方法和用于该方法的母基板测试装置。

根据本发明的一方面，提供了测试有机发光显示面板的方法。所述方法包括将电场应用至所述有机发光显示面板的封装层和确定所述有机发光显示面板的缺陷。

施加所述电场可包括允许所述导电板与所述封装层的顶面接触和将偏压施加在所述有机发光显示面板的公共电极与所述导电板之间的操作。

所述方法还可包括老化所述有机发光显示面板。

确定所述缺陷的操作可包括打开所述有机发光显示面板和检查是否已经出现缺陷。

所述封装层可以是薄膜封装（TFE）层。

根据本发明的另一方面，提供了用于测试其上形成有多个有机发光显示面板的母基板的母基板测试装置。所述母基板测试装置包括固定和支撑所述母基板的底板、包括多个电极销且将电信号提供给所述母基板的焊盘单元的信号供给单元、以及与所述母基板的顶面接触的导电板。偏压经由所述多个电极销中的至少一个电极销和所述导电板施加至所述母基板，以将电场施加至所述多个有机发光显示面板的封装层。

所述导电板可连接至接地电压源，并且所述至少一个电极销将负的偏压提供给共同连接至所述多个有机发光显示面板的公共电极的配线。

所述导电板可包括薄膜导电带。

所述导电板可包括与所述多个有机发光显示面板的显示单元对应的多个导电单元和被设置在所述多个导电单元之间且具有网格形式的绝缘单元。

所述母基板测试装置还可包括按压单元，所述按压单元按压所述导电板以允许所述导电板紧密地附接至所述封装层。

在所述偏压被施加之后，电压可经由所述多个电极销供给所述母基板以老化所述多个有机发光显示面板。

所述母基板测试装置还可包括加热器，所述加热器与所述底板组合并且将热提供给所述母基板。

根据本发明的另一方面，提供了测试母基板的方法。所述方法包括：将其上形成有多个有机发光显示面板的母基板提供给底板；将电场施加至所述多个有机发光显示面板的封装层；以及确定所述多个有机发光显示面板中具有缺陷的有机发光显示面板。

施加所述电场可包括允许导电板与所述母基板的顶面接触和将偏压施加在所述导电板与所述母基板的配线中与所述多个有机发光显示面板的公共电极电连接的配线之间。

所述方法还可包括老化所述多个有机发光显示面板。

所述老化操作可包括：将热经由与所述底板组合的加热器供给所述底板；以及将老化信号提供给所述多个有机发光显示面板。

附图说明

通过参考附图详细描述本发明的示例性实施方式，本发明的上面和其它特征和优点将变得更加明显，在附图中：

图1示出了根据本发明的一个实施方式的测试有机发光显示面板的方法；

图2是示出了有机发光显示面板的剖视图；

图3是示出图2所示的有机发光显示面板的像素区域的剖视图；

图4是测试有机发光显示面板的方法的流程图；

图5是根据本发明的实施方式的图4的流程图中电场施加的实施例的流程图；

图6A和6B是顺序地示出了测试有机发光显示面板的斜视图；

图7是根据本发明的另一实施方式的测试有机发光显示面板的方法的流程图；

图8是包括多个有机发光显示面板的母基板的正视图；

图9是根据本发明的实施方式的母基板测试装置的斜视图；

图10是图9的母基板测试装置的侧视图；