[发明专利]磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法和装置

说明书

本发明实施方式公开了一种磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法和装置。方法包括：执行一负载全反射测试；检测所述负载全反射测试的一负载全反射功率损耗；基于所述负载全反射功率损耗和一特定参数确定所述射频线圈功率损耗。无需额外设置用于检测射频线圈射频电压的耦合线圈，而是基于负载全反射功率损耗和一特定参数确定射频线圈功率损耗，因此本发明实施方式可以在不使用耦合线圈的条件下计算射频线圈功率损耗，节省了硬件投入。

技术领域

本发明涉及磁共振成像技术领域，特别是涉及磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法和装置。

背景技术

磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging，MRI)是随着计算机技术、电子电路技术、超导体技术的发展而迅速发展起来的一种生物磁学核自旋成像技术。它利用磁场与射频脉冲使人体组织内进动的氢核(即H+)发生振动产生射频信号，经计算机处理而成像。当把物体放置在磁场中，用适当的电磁波照射它，使之共振，然后分析它释放的电磁波，就可以得知构成这一物体的原子核的位置和种类，据此可以绘制成物体内部的精确立体图像。比如，可以通过磁共振成像扫描人类大脑获得的一个连续切片的动画，由头顶开始，一直到脚部。

射频线圈功率损耗是磁共振成像系统中射频线圈的主要参数之一。磁共振成像中的监控子系统可以根据射频线圈功率损耗限制射频功率的数值，以保护人体不接收到过量射频信号。在公开号CN101615214B的专利文献中，披露了对磁共振成像射频线圈进行性能分析的方法。在该方法中，首先建立射频线圈空间仿真模型并计算导体的趋肤深度，然后对仿真模型进行网格剖分并设置仿真边界条件，再用电磁场有限元数值计算软件算出各项电磁参数，最后计算射频线圈的电感、电阻、负载涡流损耗等效电阻等参数。

在现有技术中，在射频线圈的发射端口设置有用于感应射频线圈发射端口处射频电压的耦合线圈，并基于所感应的射频电压来计算射频线圈功率损耗。然而，这种方式由于需要额外设置耦合线圈，从而提高了系统硬件成本。

发明内容

本发明实施方式提出一种磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法，以降低成本。

本发明实施方式提出一种磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定装置，以降低成本。

本发明实施方式提出一种磁共振成像系统，以降低成本。

本发明实施方式的技术方案如下：

一种磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法，包括：

执行一负载全反射测试；

检测所述负载全反射测试的一负载全反射功率损耗；

基于所述负载全反射功率损耗和一特定参数确定所述射频线圈功率损耗。

所述特定参数是一经验值。

所述特定参数是K，

其中，所述射频线圈是具有一第一端口和一第二端口的一体线圈，U₁是射频线圈第一端口射频电压，U₂是射频线圈第二端口射频电压；U_{1_ref}是负载全反射第一端口射频电压，U_{2_ref}是负载全反射第二端口射频电压。

还包括：

利用所述射频线圈执行一磁共振扫描，并根据所述磁共振成像系统的功率分配器的一第一功率特性参数以及该功率分配器与该射频线圈之间的一传输路径参数，确定所述射频线圈第一端口射频电压和所述射频线圈第二端口射频电压，即所述第一功率特性参数是进行所述磁共振扫描时的功率特性参数。

所述确定所述射频线圈第一端口射频电压和所述射频线圈第二端口射频电压包括：