[发明专利]基于AD模块输出的薄膜电弱点测试统计系统及测试方法

权利要求书

1.一种基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统，其特征在于包括以下组成部分：

漏电流采样电路（1），所述漏电流采样电路（1）的输出端与AD模块（2）的输入端相连；

AD模块（2），其输入端与所述漏电流采样电路（1）的输出端连接，用于将从漏电流采样电路（1）接收的模拟信号转换成数字信号；

PLC（3），其输入端与所述AD模块（2）的输出端连接，用于接收从AD模块（2）输出的数字信号，所述PLC（3）的输出端与输出设备（4）的输入端相连；

输出设备（4），其与PLC（3）双向通讯连接，用于接收并显示PLC（3）传送过来的数据。

2.根据权利要求1所述的基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统，其特征在于：所述AD模块（2）为三菱FX1N-2AD-BD。

3.根据权利要求2所述的基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统，其特征在于：所述漏电流采样电路（1）包括限流电阻（R3）、上电极、下电极和采样电阻（R4）；所述限流电阻（R3）串联在测试电压正极端与上电极之间，采样电阻（R4）串联在下电极与测试电压负极端之间，所述上电极、下电极分设在待测薄膜的两侧；所述采样电阻（R4）的高电位节点连接所述AD模块（2）的电压通道输入端子，所述采样电阻（R4）的低电位节点连接所述AD模块（2）的公共输入端子。

4.根据权利要求3所述的基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统，其特征在于：所述上电极为导电橡胶，所述下电极为金属铜辊，所述限流电阻（R3）为RI80B/8W/200KΩ/J高压电阻，所述采样电阻（R4）为DR/50W/200Ω/F大功率电阻。

5.根据权利要求1所述的基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统，其特征在于：所述PLC（3）为三菱FX1N-24MT-001。

6.根据权利要求1所述的基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统，其特征在于：所述输出设备（4）为GT1055-QSBD-C触摸屏。

7.一种根据权利要求1所述基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统的测试方法,其包括如下步骤：

1）、使待测薄膜在漏电流采样电路（1）中的两个电极之间移动，漏电流采样电路（1）实时检测采集漏电流，漏电流采样电路（1）并将采集到的表征漏电流大小的模拟信号传送至AD模块（2）；

2）、所述AD模块（2）将从漏电流采样电路（1）接收的模拟信号转换成数字信号发送至PLC（3）；

3）、所述PLC（3）中内设有强度限值和时间限值，当PLC（3）接收来自所述AD模块（2）的数字信号后，进行如下运算：

当所述数字信号的强度小于所述强度限值时，不再将所述数字信号的持续时间与所述时间限值进行比较，此时电弱点和电弱线的数值均保持原数值；

当所述数字信号的强度大于所述强度限值，且所述数字信号的持续时间小于所述时间限值时，电弱点的数值增加一个；

当所述数字信号的强度大于所述强度限值，且所述数字信号的持续时间大于所述时间限值时，电弱线的数值增加一个；

4）、所述PLC（3）对电弱点的数量、电弱线的数量以及电弱点和电弱线的总数量分别进行统计得到结果，且PLC（3）将所述结果发往输出设备（4）。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于：所述漏电流采样电路（1）包括限流电阻（R3）、上电极、下电极和采样电阻（R4）；所述限流电阻（R3）串联在测试电压正极端与上电极之间，采样电阻（R4）串联在下电极与测试电压负极端之间，所述待测薄膜在测试时即设置在上电极和下电极之间；所述采样电阻（R4）的高电位节点连接所述AD模块（2）的电压通道输入端子，所述采样电阻（R4）的低电位节点连接所述AD模块（2）的公共输入端子。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于：所述上电极为导电橡胶，所述下电极为金属铜辊，所述限流电阻（R3）为RI80B/8W/200KΩ/J高压电阻，所述采样电阻（R4）为DR/50W/200Ω/F大功率电阻。

10.根据权利要求7～9任一项所述的测试方法，其特征在于：所述PLC（3）中内设的强度限值为1mA，时间限值为200mS。