[发明专利]基于AD模块输出的薄膜电弱点测试统计系统及测试方法

说明书

技术领域

本发明属于电气用塑料薄膜测试仪器，涉及塑料薄膜电弱点和电弱线检测问题，特别涉及基于AD模块输出的薄膜电弱点测试统计系统及测试方法。

背景技术

电气用塑料薄膜的生产过程中，由于工艺、环境等原因使薄膜出现穿孔、导电颗粒积聚等影响电气性能的电弱点。根据国家标准《GB/T13541-92电气用塑料薄膜试验方法》，电气用塑料薄膜要求进行电弱点测试。电弱点测试中，在给定直流电压下每平方米的击穿点（电弱点）数成为衡量薄膜质量水平的重要指标。此外，薄膜在生产过程中从纵拉到牵引辊站再到分切经过很多纵向旋转的辊轴，极易引起纵向划伤，此纵向划伤则在薄膜上形成“电弱线”，因此，如何快速测量并统计因穿孔、导电颗粒积聚等引起的离散的“电弱点”和纵向划伤引起的“电弱线”，是本领域技术亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提出一种基于AD模块输出的薄膜电弱点测试统计系统，用于解决现有技术的不足，本系统不但测量准确，而且能够将单位面积薄膜上的电弱点和电弱线数量统计并直观的显示出来，从而大大地提高了测试效率。

为实现上述目的，本发明采用了以下技术方案：

一种基于AD模块输出的薄膜电弱点测试数据统计系统，其包括以下组成部分：

漏电流采样电路，所述漏电流采样电路的输出端与AD模块的输入端相连；

AD模块，其输入端与所述漏电流采样电路的输出端连接，用于将从漏电流采样电路接收的输入信号转换成数字信号；

PLC，其输入端与所述AD模块的输出端连接，用于接收从AD模块输出的数字信号，所述PLC的输出端与输出设备的输入端相连；

输出设备，其与PLC双向通讯连接，用于接收并显示PLC传送过来的数据。

本发明还可以通过以下技术措施得以进一步实现。

优选的，所述AD模块为三菱FX1N-2AD-BD。

优选的，所述漏电流采样电路包括限流电阻、上电极、下电极和采样电阻；所述限流电阻串联在测试电压正极端与上电极之间，采样电阻串联在下电极与测试电压负极端之间，所述上电极、下电极分设在待测薄膜的两侧；所述采样电阻的高电位节点连接所述AD模块的电压通道输入端子，所述采样电阻的低电位节点连接所述AD模块的公共输入端子。

优选的，所述上电极为导电橡胶，所述下电极为金属铜辊，所述限流电阻为RI80B/8W/200KΩ/J高压电阻，所述采样电阻为DR/50W/200Ω/F大功率电阻；其中RI80B/8W/200KΩ/J表示额定功率为8W、允许误差范围为±5%阻值为200KΩ的玻璃釉膜电阻，DR/50W/200Ω/F表示额定功率为50W、允许误差范围为±1%阻值为200KΩ的碳膜电阻。

优选的，所述PLC为三菱FX1N-24MT-001。

优选的，所述输出设备选用GT1055-QSBD-C触摸屏。

本发明还提供了一种基于上述统计系统的测试方法，其包括如下步骤：

1）、使待测薄膜在漏电流采样电路（1）中的两个电极之间移动，漏电流采样电路（1）实时检测采集漏电流，漏电流采样电路（1）并将采集到的表征漏电流大小的模拟信号传送至AD模块（2）；

2）、所述AD模块（2）将从漏电流采样电路（1）接收的模拟信号转换成数字信号发送至PLC（3）；

3）、所述PLC（3）中内设有强度限值和时间限值，当PLC（3）接收来自所述AD模块（2）的数字信号后，进行如下运算：

当所述数字信号的强度小于所述强度限值时，不再将所述数字信号的持续时间与所述时间限值进行比较，此时电弱点和电弱线的数值均保持原数值；

当所述数字信号的强度大于所述强度限值，且所述数字信号的持续时间小于所述时间限值时，电弱点的数值增加一个；

当所述数字信号的强度大于所述强度限值，且所述数字信号的持续时间大于所述时间限值时，电弱线的数值增加一个；

4）、所述PLC（3）对电弱点的数量、电弱线的数量以及电弱点和电弱线的总数量分别进行统计得到结果，且PLC（3）将所述结果发往输出设备（4）。

所述漏电流采样电路采集到的表征漏电流大小的模拟信号，其既可以为电压信号，也可以为电流信号，只要其能表征发生的漏电流的大小即可。

优选的，所述PLC（3）中内设的强度限值为1mA，时间限值为200mS。

本发明的有益效果在于：