[发明专利]用于激光陀螺镜片筛选的接触式检测装置

权利要求书

1.一种用于激光陀螺镜片筛选的接触式检测装置，其特征在于，包括一套光路入射系统（1）、左镜片夹持及调整机构（2）、一个腔体支撑机构（3）、右镜片夹持及调整机构（4）、一套光路采集系统（5）以及一个大理石隔振台（6）；所述的腔体支撑机构（3）固定在大理石隔振台（6）的中前部；光路入射系统（1）固定于大理石隔振台（6）上，位于腔体支撑机构（3）的左后方；左镜片夹持及调整机构（2）和右镜片夹持及调整机构（4）分别固定在大理石隔振台（6）上，位于腔体支撑机构（3）的左前方和右前方；光路采集系统（5）安装固定在大理石隔振台（6）上，位于腔体支撑机构（3）的右侧。

2.根据权利要求1所述的用于激光陀螺镜片筛选的接触式检测装置，其特征在于，所述的光路入射系统（1）由一个激光器（7）及第一支架（8）、一个偏光镜（9）及第二支架（10）、一个横向微调镜（11）及第三支架（12）、一个竖向微调镜（13）及第四支架（14）、一个第一反光镜（15）及第五支架（16）以及一个第一基座（17）组成，用于产生入射光并进入激光陀螺腔体（35）内；所述的第一基座（17）固定安装在大理石隔振台（6）上，位于腔体支撑机构（3）的左后方；所述激光器（7）及及第一支架（8）固定安装在第一基座（17）的最左端；偏光镜（9）及第二支架（10）、横向微调镜（11）及第三支架（12）、竖向微调镜（13）及第四支架（14）、第一反光镜（15）及第五支架（16）依次固定安装在第一基座（17）上。

3.根据权利要求1所述的用于激光陀螺镜片筛选的接触式检测装置，其特征在于，所述左镜片夹持及调整机构（2）和右镜片夹持及调整机构（4）结构相同，由一个夹爪（18）、一个自动倾斜工作平台（19）、一个x向大行程纳米工作平台（20）、一个y向大行程纳米工作平台（21）、一个z向大行程纳米工作平台（22）以及一个第二基座（23）组成；所述的第二基座（23）通过螺钉固定安装在大理石隔振台（6）上，z向大行程纳米工作平台（22）与第二基座（23）连接，y向大行程纳米工作平台（21）安装在z向大行程纳米工作平台（22）上，x向大行程纳米工作平台（20）与y向大行程纳米工作平台（21）连接，自动倾斜工作平台（19）安装在x向大行程纳米工作平台（20）上，夹爪（18）与自动倾斜工作平台（19）连接；由夹爪（18）实现镜片的夹紧及压力施加，使得镜片与腔体（35）接触，由x向大行程纳米工作平台（20）、y向大行程纳米工作平台（21）、z向大行程纳米工作平台（22）完成镜片沿着x、y、z三个方向的位置调整，由自动倾斜工作平台（19）完成绕着镜片轴线的姿态调整。