[发明专利]阵列基板、显示面板及其测试方法在审

专利信息
申请号: 201410158241.9 申请日: 2014-04-18
公开(公告)号: CN103995369A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 张智 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/133
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 阵列 显示 面板 及其 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,其特征在于,包括显示区和GOA电路区;

所述显示区包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线;

所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点。

2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述多个GOA单元与所述多条栅线一一对应。

3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述信号线包括时钟信号线和帧开启信号线。

4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述帧开启信号线为1条或2条。

5.一种显示面板,其特征在于,包括权利要求1至4任一项所述的阵列基板。

6.一种显示面板的测试方法,其特征在于,所述显示面板为权利要求5所述的显示面板;所述方法包括:

通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压;其中,所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点;

通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压;

对显示面板的相应区域的亮度进行测试;

对电压数据和光学数据进行处理,得到电压-透过率曲线。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压具体包括:

信号发生器通过探针与所述GOA电路区中预留的信号测试点接触,并通过所述探针向所述栅线输入栅极信号电压;

或者,在所述GOA电路区预留的信号测试点的位置涂覆导电胶,使不同信号测试点之间相互电连接;信号发生器通过导线与所述导电胶相连,并通过所述导线向所述栅线输入栅极信号电压。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压包括:

将所述显示区的数据线及相应的数据线引线划分为至少一组,针对每组所述数据线引线涂覆导电胶,使每组所述数据线引线之间相互电连接;

信号发生器通过导线与任一组所述导电胶相连,并通过所述导线向相应的所述数据线输入数据信号电压。

9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对显示面板的相应区域的亮度进行测试包括:

针对所述栅线和所述数据线驱动的所述显示面板的特定区域,通过光学测试设备对所述显示面板的相应区域的亮度进行测试,并记录相应的光学数据。

10.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对电压数据和光学数据进行处理,得到电压-透过率曲线包括:

通过上位机对加载在所述数据线上的电压数据和所述显示面板的相应区域的光学数据进行处理,得到显示面板的电压-透过率曲线。

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