[发明专利]阵列基板、显示面板及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示面板及其测试方法。

背景技术

液晶显示面板的电压-透过率曲线（V-T曲线）是指显示模块在无驱动电路阶段显示面板自身的电压-透过率曲线，它是产品开发阶段的重要数据支持。

对于传统的液晶显示面板而言，其电压-透过率曲线的测试是通过在栅线和数据线的输入端涂覆导电胶，信号发生器在栅线和数据线的输入端引出导线与导电胶相连，从而在栅线的输入端输入高压信号，使薄膜晶体管处于开启状态，在数据线的输入端输入数据电压信号；光学测试设备在数据电压信号变化的过程中测得相应的亮度，从而得到电压-透过率曲线。

但对于集成栅极驱动(Gate Driver On Array，简称GOA)显示面板而言，其栅线的输入端由GOA单元组成，无法在栅线的输入端涂覆导电胶而实现信号的输入，因此GOA显示面板的电压-透过率曲线的测试难以实现。

发明内容

本发明的实施例提供一种阵列基板、显示面板及其测试方法，可实现GOA显示面板的电压-透过率曲线的测试。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，提供一种阵列基板，包括显示区和GOA电路区；所述显示区包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线；所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点。

可选的，所述多个GOA单元与所述多条栅线一一对应。

可选的，所述信号线包括时钟（Clock，简称CLK）信号线和帧开启（Start Vertical，简称STV）信号线。

进一步可选的，所述STV信号线为1条或2条。

另一方面，提供一种显示面板，包括上述的阵列基板。

再一方面，提供一种显示面板的测试方法，所述显示面板上述的显示面板；所述方法包括：通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压；其中，所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点；通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压；对显示面板的相应区域的亮度进行测试；对电压数据和光学数据进行处理，得到电压-透过率曲线。

可选的，所述通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压具体包括：信号发生器通过探针与所述GOA电路区中预留的信号测试点接触，并通过所述探针向所述栅线输入栅极信号电压；或者，在所述GOA电路区预留的信号测试点的位置涂覆导电胶，使不同信号测试点之间相互电连接；信号发生器通过导线与所述导电胶相连，并通过所述导线向所述栅线输入栅极信号电压。

可选的，所述通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压包括：将所述显示区的数据线及相应的数据线引线划分为至少一组，针对每组所述数据线引线涂覆导电胶，使每组所述数据线引线之间相互电连接；信号发生器通过导线与任一组所述导电胶相连，并通过所述导线向相应的所述数据线输入数据信号电压。

可选的，所述对显示面板的相应区域的亮度进行测试包括：针对所述栅线和所述数据线驱动的所述显示面板的特定区域，通过光学测试设备对所述显示面板的相应区域的亮度进行测试，并记录相应的光学数据。

可选的，所述对电压数据和光学数据进行处理，得到电压-透过率曲线包括：通过上位机对加载在所述数据线上的电压数据和所述显示面板的相应区域的光学数据进行处理，得到显示面板的电压-透过率曲线。

本发明的实施例提供一种阵列基板、显示面板及其测试方法；所述阵列基板包括显示区和GOA电路区；所述显示区包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线；所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点。

当上述的GOA显示面板需要进行V-T曲线的测试时，由于所述GOA电路取代了传统液晶显示面板中的栅驱动电路，因此在所述阵列基板上不存在用于连接栅线和栅驱动电路的栅线引线，这样便会导致无法在所述栅线的输入端涂覆导电胶。基于此，通过在所述阵列基板的GOA电路区预留信号测试点，便可以使所述栅线通过探针或导线与测试设备中的信号发生器之间实现通信连接；而通过在所述数据线引线的上方涂覆导电胶，便可以使所述数据线通过导线连接与测试设备中的信号发生器之间实现通信连接。这样便可以实现所述GOA显示面板的V-T曲线的测试。

附图说明