[发明专利]一种功率器件的背面buffer层制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种功率器件制作方法，具体涉及一种功率器件的背面buffer层制作方法。

背景技术

随着电力电子技术的发展，各种变频电路，斩波电路的应用不断扩大，在这些电力电子电路中的主回路不论是采用换流关断的晶闸管，还是采用自关断能力的新型电力电子器件，都需要一个与之并联的快速恢复二极管。尤其是以IGBT，IGCT为代表的电力电子器件的广泛应用，对快恢复二极管又提出新的要求，即具有短的反向恢复时间t_rr的同时还要具有软恢复特性。

需要注意的是，快恢复二极管并非普通二极管加少子寿命控制技术那么简单，与普通二极管的阴极N+浅结结构不同，快恢复二极管由于恢复速度快通常需要在背面增加buffer层来提高软度。

目前在二极管阳极侧具有较多的软度改善措施：如EMCON、局域寿命控制等等，并已经得到实际应用。阴极侧目前已经实用的软度改善措施即增加buffer层，一般常用的结构有三种，一是外延双基区，通过两次以上外延来实现，二是深扩散双基区，通过一次磷的深扩散形成，三是两次扩散双基区，通过两次磷的深扩散来形成。外延形成buffer层多用于对二极管压降要求较高，频率较低的应用，其软度通常较扩散形成buffer层的二极管要差，扩散形成的buffer层通常应用于对二极管软度要求较高，频率较高，对压降不敏感的应用。

对于3300V以上器件，上述实现方式均存在一些不足尽如人意的方面：对于外延方式，3300V器件的N-区厚度通常要达到300um以上，这样的厚度通过外延来形成是相当困难的，因此目前对于3300V以上器件均用单晶片作为材料片，也就不存在双外延形成buffer层的方式。对于扩散方式，受限于浓度梯度的存在，buffer层形成后，为了保证形成良好的欧姆接触及背面buffer层效果，背面不可减薄过多。目前实际是采用背面通过硅腐蚀液腐蚀硅的方式，此种方式腐蚀速度及均匀性控制较难，并且不能保证在前面加工过程中在硅片背面形成的副产物会全部被腐蚀掉，因此，存在金属粘附性差的可能，严重会导致金属脱落。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的是提供一种功率器件的背面buffer层制作方法，该方法从结构上保证buffer层的完整及背面良好的欧姆接触。

本发明的目的是采用下述技术方案实现的：

本发明提供一种功率器件的背面buffer层制作方法，所述功率器件包括依次在单晶硅片N-层背面设置的buffer层、外延N+层和减薄区域，依次在单晶硅片N-层正面设置的金属电极、钝化层和氧化层，其改进之处在于，外延N+层在功率器件正面热过程作用下向单晶硅片N-层进行推结形成buffer层，所述方法包括下述步骤：

(1)单晶硅片处理：对单晶硅片背面进行抛光和清洗，形成单晶硅片N-层；

(2)形成外延N+层：通过外延的方式在单晶硅片的背面形成外延N+层，浓度最低要求10¹⁸cm^-3以上，以确保在背面金属淀积时形成欧姆接触，在背面减薄及正面热过程会形成浓度梯度双重作用下，减薄最厚区域表面浓度能形成欧姆接触；

(3)正面工艺：完成全部正面工艺，从激光打标到终端钝化完成，正面工艺加工过程中的热过程同时对外延N+层进行推结形成buffer层；

(4)背面减薄：正面工艺同时会造成背面表面残留副产物，氧化层影响背面金属工艺的过程，对背面进行减薄，背面减薄15um，去掉正面工艺加工过程中背面形成的副产物，露出新鲜硅层，通过硅腐蚀液进行背面腐蚀，用于边缘倒角及去除背面减薄时产生的应力；

(5)背面金属；形成背面金属，形成Al/Ti/Ni/Ag或Ti/Ni/Ag背面金属电极。

进一步地，所述步骤(1)中，单晶硅片为3300V以上材料的单晶硅片。

进一步地，所述步骤(2)中，减薄区域厚度为20-100um。

进一步地，所述步骤(3)中，正面工艺都包括通过氧化，光刻，刻蚀，注入，推结形成限定区域掺杂，通过金属蒸发或溅射配合光刻、刻蚀与合金形成正面金属电极，通过涂覆或淀积与光刻，刻蚀形成钝化层。

与现有技术比，本发明达到的有益效果是：

1.通过外延N+层，在实现buffer层(buffer层即为缓冲层)的同时保留现有功率器件背面成熟工艺，避免金属粘附性问题；从结构上保证buffer层的完整及背面良好的欧姆接触。