[发明专利]高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷及其制备方法无效
申请号: | 201410173928.X | 申请日: | 2014-04-28 |
公开(公告)号: | CN103992110A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | 李玲霞;金雨馨;董和磊;于仕辉;许丹 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | C04B35/495 | 分类号: | C04B35/495;C04B35/622 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 张宏祥 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 介电常数 温度 稳定 高频 介质 陶瓷 及其 制备 方法 | ||
1.一种高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷,化学式为(Bi1.5Zn0.1Sr0.4)(Zn0.5Nb1.5)O7,x=0;
该高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷的制备方法,具有如下步骤:
(1)将原料Bi2O3、Nb2O5、SrCO3和ZnO按(Bi1.5Zn0.1Sr0.4)(Zn0.5Nb1.5)O7的化学计量比称量配料;
(2)将步骤(1)配制的粉料放入球磨罐中,加入氧化锆球和去离子水,球磨4小时;将球磨后的原料置于红外干燥箱中烘干,烘干后过40目筛,获得颗粒均匀的粉料;
(3)将步骤(2)处理后的粉料于750℃煅烧,保温4小时,合成主晶相;
(4)在步骤(3)煅烧处理后的粉料中外加质量百分比为0.75%的聚乙烯醇,放入球磨罐中,加入氧化锆球和去离子水,球磨12小时,烘干后过80目筛,再用粉末压片机以2MPa的压力压成坯体;
(5)将步骤(4)成型后的坯体于925~1000℃烧结,保温4小时,制成高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷;
(6)测试制品的高频介电性能。
2.根据权利要求1所述的高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷,其特征在于,所述步骤(2)与步骤(4)的烘干温度为100℃。
3.根据权利要求1所述的高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷,其特征在于,所述步骤(2)与步骤(4)的陶瓷粉体与氧化锆球、去离子水的质量比为1∶1∶2。
4.根据权利要求1所述的高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷,其特征在于,所述步骤(4)的坯体为Φ10mm×1mm的圆片。
5.根据权利要求1所述的高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷,其特征在于,所述步骤(5)的烧结温度为975℃,保温时间为4h。
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