[发明专利]显示器阵列基板的外围测试线路以及液晶显示面板有效
申请号: | 201410216387.4 | 申请日: | 2014-05-21 |
公开(公告)号: | CN104035217A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 付延峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 吴大建;刘华联 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示器 阵列 外围 测试 线路 以及 液晶显示 面板 | ||
1.一种显示器阵列基板的外围测试线路,其特征在于,包括:
多组测试信号线,每组测试信号线由隔开间隔设置的第一测试信号线和第二测试信号线组成;
多条测试垫引线,每条测试垫引线设置在相应组的第一测试信号线和第二测试信号线的间隔处,且每条测试垫引线与第一测试信号线和第二测试信号线连接、不与其他组的第一测试信号线和第二测试信号线重叠;
多个测试垫,每个测试垫设置在相应的测试垫引线上。
2.根据权利要求1所述的外围测试线路,其特征在于,每条测试垫引线通过第一钝化层过孔和第二钝化层过孔与相应组的第一测试信号线非重叠连接,且每条测试垫引线通过第三钝化层过孔和第四钝化层过孔与相应组的第二测试信号线非重叠连接,其中,
第一钝化层过孔为ITO层与该第一测试信号线连接的钝化层过孔,第二钝化层过孔为所述ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔,第三钝化层过孔为另一ITO层与该第二测试信号线连接的钝化层过孔,第四钝化层过孔为所述另一ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔。
3.根据权利要求2所述的外围测试线路,其特征在于,
多条测试垫引线以相互平行错位的方式排列。
4.根据权利要求3所述的外围测试线路,其特征在于,
每组的第一测试信号线和第二测试信号线分别与相应的测试垫引线垂直连接。
5.一种显示器阵列基板,其特征在于,包括:
显示区;
位于所述显示区周围的外围测试线路,该外围测试线路包括:
多组测试信号线,每组测试信号线由隔开间隔设置的第一测试信号线和第二测试信号线组成;
多条测试垫引线,每条测试垫引线设置在相应组的第一测试信号线和第二测试信号线的间隔处,且每条测试垫引线与第一测试信号线和第二测试信号线连接、不与其他组的第一测试信号线和第二测试信号线重叠;
多个测试垫,每个测试垫设置在相应的测试垫引线上。
6.根据权利要求5所述的显示器阵列基板,其特征在于,每条测试垫引线通过第一钝化层过孔和第二钝化层过孔与相应组的第一测试信号线非重叠连接,且每条测试垫引线通过第三钝化层过孔和第四钝化层过孔与相应组的第二测试信号线非重叠连接,其中,
第一钝化层过孔为ITO层与该第一测试信号线连接的钝化层过孔,第二钝化层过孔为所述ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔,第三钝化层过孔为另一ITO层与该第二测试信号线连接的钝化层过孔,第四钝化层过孔为所述另一ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔。
7.根据权利要求4所述的显示器阵列基板,其特征在于,
多条测试垫引线以相互平行错位的方式排列。
8.根据权利要求7所述的显示器阵列基板,其特征在于,
每组的第一测试信号线和第二测试信号线分别与相应的测试垫引线垂直连接。
9.一种液晶显示面板,其特征在于,包括如权利要求5至8中任一项所述的显示器阵列基板。
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