[发明专利]显示器阵列基板的外围测试线路以及液晶显示面板

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种显示器阵列基板的外围测试线路以及液晶显示面板。

背景技术

一般，在制作液晶显示器的前段过程中，使用外延的方法在基板上形成数百万颗的薄膜晶体管以作为控制单元，然而，若有部分的薄膜晶体管在制作时质量达不到预期效果，导致无法表现出其开关控制特性，则会产生如亮点或暗点的缺陷，大幅地降低液晶显示器的质量。因此，必须对薄膜晶体管进行有效地测试，以维持液晶显示器的质量。

在现有的对液晶显示器的薄膜晶体管进行测试的方案中，TFT阵列基板外围区域的测试信号线与测试垫的连接结构具体可参考图1。如图1所示，基板外围区域的测试信号线M1通过ITO与测试信号线M1连接的钝化层过孔V1、以及ITO与测试垫引线M2连接的钝化层过孔V2与测试垫引线M2连接，进而连接到相应的测试垫P上。从图中可以看出，在不同的测试信号线M1通过测试垫引线M2连接到相应的测试垫P的过程中，测试垫引线M2必然会横跨其他的测试信号线M1，在测试信号线M1与测试垫引线M2交界跨接的过程中容易造成静电施放而使测试信号线M1和测试垫引线M2短接，导致测试信号线短路而无法检测，因而降低产品的合格率。

因此，需要一种解决方案来改善现有技术中测试信号线和测试垫引线容易短接的问题，降低静电施放的击伤风险，提升产品测试准确率，进而提高产品合格率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种显示器阵列基板的外围测试线路，该外围测试线路能够解决测试信号线和测试垫引线容易短接的问题，降低静电施放的击伤风险。另外，还提供了一种显示器阵列基板和液晶显示面板。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种显示器阵列基板的外围测试线路，包括：多组测试信号线，每组测试信号线由隔开间隔设置的第一测试信号线和第二测试信号线组成；多条测试垫引线，每条测试垫引线设置在相应组的第一测试信号线和第二测试信号线的间隔处，且每条测试垫引线与第一测试信号线和第二测试信号线连接、不与其他组的第一测试信号线和第二测试信号线重叠；多个测试垫，每个测试垫设置在相应的测试垫引线上。

在一个实施例中，每条测试垫引线通过第一钝化层过孔和第二钝化层过孔与相应组的第一测试信号线非重叠连接，且每条测试垫引线通过第三钝化层过孔和第四钝化层过孔与相应组的第二测试信号线非重叠连接，其中，第一钝化层过孔为ITO层与该第一测试信号线连接的钝化层过孔，第二钝化层过孔为所述ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔，第三钝化层过孔为另一ITO层与该第二测试信号线连接的钝化层过孔，第四钝化层过孔为所述另一ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔。

在一个实施例中，多条测试垫引线以相互平行错位的方式排列。

在一个实施例中，每组的第一测试信号线和第二测试信号线分别与相应的测试垫引线垂直连接。

根据本发明的另一方面，还提供了一种显示器阵列基板，包括：显示区；位于所述显示区周围的外围测试线路，该外围测试线路包括：多组测试信号线，每组测试信号线由隔开间隔设置的第一测试信号线和第二测试信号线组成；多条测试垫引线，每条测试垫引线设置在相应组的第一测试信号线和第二测试信号线的间隔处，且每条测试垫引线与第一测试信号线和第二测试信号线连接、不与其他组的第一测试信号线和第二测试信号线重叠；多个测试垫，每个测试垫设置在相应的测试垫引线上。

在一个实施例中，每条测试垫引线通过第一钝化层过孔和第二钝化层过孔与相应组的第一测试信号线非重叠连接，且每条测试垫引线通过第三钝化层过孔和第四钝化层过孔与相应组的第二测试信号线非重叠连接，其中，第一钝化层过孔为ITO层与该第一测试信号线连接的钝化层过孔，第二钝化层过孔为所述ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔，第三钝化层过孔为另一ITO层与该第二测试信号线连接的钝化层过孔，第四钝化层过孔为所述另一ITO层与该测试垫引线连接的钝化层过孔。

在一个实施例中，多条测试垫引线以相互平行错位的方式排列。

在一个实施例中，每组的第一测试信号线和第二测试信号线分别与相应的测试垫引线垂直连接。

根据本发明的另一方面，还提供了一种液晶显示面板，包括上述的显示器阵列基板。

与现有技术相比，本发明的一个或多个实施例可以具有如下优点：

本发明的外围测试线路，通过改变测试信号线与测试垫的连接方式，避免测试垫引线与测试信号线跨界现象的出现，且在测试垫引线与测试信号线连接处，通过过孔使测试垫引线不跨界到测试信号线。降低静电释放的击伤风险，提升产品测试准确率，提高产品良率