[发明专利]延迟锁相环电路设备及延迟锁相环锁定方法有效
申请号: | 201410218661.1 | 申请日: | 2014-05-22 |
公开(公告)号: | CN104184472B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 金锭炫 | 申请(专利权)人: | 美格纳半导体有限公司 |
主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 王兆赓;韩素云 |
地址: | 韩国忠清*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 锁定 控制信号电压 未锁定状态 延迟锁相环 存储 延迟锁相环电路 电路设备 快速检测 快速锁定 时钟信号 检测 | ||
1.一种延迟锁相环电路设备,包括:
存储器,被构造为将与延迟锁相环锁定状态相应的控制信号电压值存储为参考电压值;
锁定检测器,被构造为使用外部时钟信号和反馈内部时钟信号确定延迟锁相环未锁定状态何时发生;
电平确定器,被构造为使用控制信号电压值的电平确定延迟锁相环未锁定状态何时发生;以及
初始化器,被构造为响应于确定延迟锁相环未锁定状态发生而从锁定检测器和电平确定器中的至少一个接收重置信号,并被构造为响应于接收到重置信号,而将所述延迟锁相环电路设备的控制信号电压值重置为存储在存储器中的参考电压值。
2.如权利要求1所述的延迟锁相环电路设备,其中,锁定检测器被构造为检测外部时钟信号和反馈内部时钟信号之间的相位差,并被构造为响应于检测出相位差而确定延迟锁相环未锁定状态发生。
3.如权利要求2所述的延迟锁相环电路设备,其中,锁定检测器包括:
多个触发器,被构造为接收外部时钟信号和反馈内部时钟信号;以及
与门,被构造为对于从多个触发器接收的输出信号执行与操作,并将与操作的结果输出为高逻辑信号或低逻辑信号。
4.如权利要求3所述的延迟锁相环电路设备,其中,所述多个触发器为DQ触发器。
5.如权利要求3所述的延迟锁相环电路设备,其中,与操作的结果作为重置信号被发送到初始化器。
6.如权利要求1所述的延迟锁相环电路设备,其中,电平确定器包括:
第一比较器,被构造为将控制信号电压值与最小延迟锁相环锁定电压值进行比较;
第二比较器,被构造为将控制信号电压值与最大延迟锁相环锁定电压值进行比较;以及
或门,被构造为响应于控制信号电压值小于最小延迟锁相环锁定电压值或大于最大延迟锁相环锁定电压值,而将重置信号输出到初始化器。
7.如权利要求2所述的延迟锁相环电路设备,其中,存储器包括:
采样器,被构造为当所述延迟锁相环电路设备在锁定状态时,与外部时钟信号同步地对控制信号电压值进行采样,
保持单元,被构造为存储采样的控制信号电压值。
8.如权利要求7所述的延迟锁相环电路设备,其中,采样器和保持单元中的至少一个还包括放大器。
9.如权利要求7所述的延迟锁相环电路设备,其中,保持单元被构造为将存储的控制信号电压值作为参考电压值提供给初始化器。
10.一种延迟锁相环锁定方法,包括:
将与延迟锁相环锁定状态相应的控制信号电压值存储为参考电压值;
通过将外部时钟信号和反馈内部时钟信号进行比较,或通过检测控制信号电压值的电平改变,来确定延迟锁相环未锁定状态何时发生;以及
响应于检测出延迟锁相环未锁定状态,通过将延迟锁相环未锁定状态中的控制信号电压值重置为存储的参考电压值,来执行延迟锁相环锁定。
11.如权利要求10所述的延迟锁相环锁定方法,其中,确定延迟锁相环未锁定状态何时发生的步骤包括:比较外部时钟信号和反馈内部时钟信号的相位。
12.如权利要求11所述的延迟锁相环锁定方法,其中,确定延迟锁相环未锁定状态何时发生的步骤还包括:响应于相位不同而确定延迟锁相环未锁定状态发生。
13.如权利要求10所述的延迟锁相环锁定方法,其中,确定延迟锁相环未锁定状态何时发生的步骤包括:响应于控制信号电压值偏离正常操作范围,而确定延迟锁相环未锁定状态发生。
14.如权利要求13的延迟锁相环锁定方法,其中,正常操作范围是用于接收控制信号电压值并产生内部时钟信号的电压控制延迟线的正常操作范围。
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