[发明专利]ID编码误差判读尺及判读方法有效
申请号: | 201410230672.1 | 申请日: | 2014-05-28 |
公开(公告)号: | CN104006742B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 吴韦良;徐勇;邱圣富;邱宗文 | 申请(专利权)人: | 上海和辉光电有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 上海唯源专利代理有限公司31229 | 代理人: | 曾耀先 |
地址: | 201508 上海市金山区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | id 编码 误差 判读 方法 | ||
1.一种ID编码误差判读尺,其特征在于包括:
具有极限边界的对照本体,所述极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸;以及
设于所述对照本体上、且位于所述极限边界界定尺寸之内的二维检验矩阵图,所述二维检验矩阵图具有用于判读所述ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。
2.根据权利要求1所述的一种误差判读尺,其特征在于:
所述ID编码单体为未判读的单个ID编码标记;
所述ID编码单元由所述ID编码单体矩阵排布构成。
3.根据权利要求2所述的一种误差判读尺,其特征在于:
所述对照本体为透明的投影片。
4.根据权利要求3所述的一种误差判读尺,其特征在于:
所述二维检验矩阵图的单体限定尺寸包括:
与所述ID编码单元边界一致的矩阵边界;
与所述ID编码单体对应并矩阵排布的单体最小范围;以及
与所述ID编码单元对应并矩阵排布的单体最大范围。
5.根据权利要求4所述的一种误差判读尺,其特征在于:
所述单体最小范围的具体数值为标准ID编码单体大小的80%;
所述单体最大范围的具体数值为标准ID编码单体大小的100%。
6.根据权利要求5所述的一种误差判读尺,其特征在于:
所述极限边界的界定尺寸包括:
距离所述二维检验矩阵图的外围四周相当于两个标准ID编码单体大小的净空边界,所述净空边界与所述二维检验矩阵图外围四周的距离小于或等于100um;
以及基于所述净空边界制定的变形偏移边界。
7.根据权利要求6所述的一种误差判读尺,其特征在于:
所述变形偏移边界为一端偏离所述净空边界正三度以及负三度而形成的边界范围。
8.一种利用ID误差判读尺的判读方法,其特征在于包括以下步骤:
1)现场监视器拍摄下实际所要判读的ID编码单元并形成图像;
2)根据实际所要判读的所述ID编码单元的大小,制作与实际所述ID编码单元同比例且如权利要求7所述的ID编码误差判读尺;
3)将所述ID编码误差判读尺中的所述对照本体与拍摄的图像进行对比,并依据一判定准则对所述ID编码单元进行检验判读;
4)从制程上排除被判读为不合格ID编码单元所对应的产品。
9.根据权利要求8所述的一种判读方法,其特征在于:
所述判定准则包括:
a.被判读的所有ID编码单体是否形成矩阵排布,每个所述ID编码单体是否处于对应的所述单体最大范围内;若是,则通过此项准则;若否,则判定为不合格;
b.被判读的所述ID编码单体是否大于所述单体最小范围并且是否小于或等于所述单体最大范围;若是,则通过此项准则;若否,则判定为不合格;
c.被判读所述ID编码单元的边缘是否与所述净空边界有两个标准ID编码单体以上的距离,并且判读所述距离是否小于或等于100um;若是,则通过此项准则;若否,则判定为不合格;
d.被判读所述ID编码单元的变形偏移是否在所述变形偏移边界范围内;若是,则通过此项准则;若否,则判定为不合格;
当通过上述所有准则后,才能判定被判读的ID编码为合格;若有其中任一项不合格则判定被判读的ID编码为不合格,再执行步骤4)。
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