[发明专利]ID编码误差判读尺及判读方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种误差量测工具及使用方法，具体涉及一种用于检测面板ID编码误差的判读尺及判读方法。

背景技术

在光电领域的面板生产过程中，无论是玻璃基板还是其他面板，为了能随时对面板追踪监控，都需在面板上进行ID编码刻号。目前ID编码刻号采用二位编码，在刻号过程中常常会出现定位精度偏差和面板形变等问题，造成ID编码刻号超出制程规范，并使得面板在后续的工序中无法读取ID编码刻号。因此，需要对所刻上的ID编码号进行工艺监控。

而现行的检测监控的机制主要有以下两种：1)当ID编码数量较少时，可直接通过架设代码读取器进行判读；2)当ID编码数量较多时，则通过拍照设备将ID编码图片存取，之后人工对比进行判读。

显而易见的，上述两种机制存在以下缺陷：代码读取器通常是在生产大尺寸面板并且ID编码较少的情形下才会应用进行判读，此种方式的局限性比较大。当采用人工比对判读时，因人而异并无精准的判定标准，并且，通过人肉眼判断其误差范围就不能保证，甚至可能会出现将有异常的产品误判为正常产品的情况。无论是那种情况，若ID编码无法正确判读，则会在后续制设备读取ID编码时发生异常而使得产线停线；或者，在客户发现产品异常时，客户无法向厂家反馈正确的生产批号，厂家就无法追查产生异常产品的正确批次。这样的后果影响甚为巨大。

因此，我们需要一种能适用于各种生产状况并能在第一时间快速正确地判定ID编码是否有问题的装置或者设备，以避免判读ID编码有误所产生的不良后果。

发明内容

为克服现有技术所存在的缺陷，现提供一种ID编码误差判读尺，包括：

具有极限边界的对照本体，极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸；以及

设于对照本体上、且位于极限边界界定尺寸之内的二维检验矩阵图，所述二维检验矩阵图具有用于判读所述ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。

本发明的有益效果在于：通过一具有单体限定尺寸及界定尺寸的测量工具作为检测的标准，以有效避免判读ID编码有误所产生的不良后果。

本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于：

ID编码单体为未判读的单个ID编码标记；

ID编码单元由ID编码单体矩阵排布构成。

本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于：

对照本体为透明的投影片。

本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于：

二维检验矩阵图的单体限定尺寸包括：与ID编码单元边界一致的矩阵边界、与ID编码单体对应并矩阵排布的单体最小范围以及与ID编码单体对应并矩阵排布的单体最大范围。

本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于：

单体最小范围的具体数值为标准ID编码单体大小的80％；单体最大范围的具体数值为标准ID编码单体大小的100％。

本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于：

极限边界的界定尺寸包括：距离二维检验矩阵图的外围四周相当于两个标准ID编码单体大小的净空边界，净空边界与二维检验矩阵图外围四周的距离小于或等于100um；以及基于净空边界制定的变形偏移边界。

本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于：

变形偏移边界为一端偏离净空边界正三度以及负三度而形成的边界范围。

本发明还提供一种利用ID误差判读尺的判读方法，该判读方法包括以下步骤：

1)现场监视器拍摄下实际所要判读的ID编码单元并形成图像；

2)根据实际所要判读的ID编码单元，制作与实际ID编码单元同比例且如权利要求7的ID编码误差判读尺；

3)将ID编码误差判读尺中的对照本体与拍摄图像进行对比，并依据一判定准则对ID编码单元进行检验判读。

4)从制程上排除被判读为不合格ID编码所对应的产品。

本发明利用ID误差判读尺的判读方法，其进一步改进在于：

判定准则包括：

a.被判读的所有ID编码单体是否均形成矩阵排布，每个ID编码单体是否处于对应的单体最大范围内；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。

b.被判读的ID编码单体是否大于单体最小范围并且是否小于或等于单体最大范围；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。

c.被判读ID编码单元的边缘是否与所述净空边界有两个标准ID编码单体以上的距离，并且判读该距离是否小于或等于100um；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。