[发明专利]一种超高分辨率AMOLED显示器件在审

专利信息
申请号: 201410232365.7 申请日: 2014-05-29
公开(公告)号: CN104064583A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 何东阳 申请(专利权)人: 何东阳
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201101 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 超高 分辨率 amoled 显示 器件
【说明书】:

技术领域

发明提供了一种超高分辨率AMOLED显示器件。

背景技术

AMOLED显示技术因其高色度域,高响应速度,更轻薄等特点,目前正取代LCD技术而逐渐成为下一代显示技术领域有力的竞争者。

目前采用LTPS器件驱动的AMOLED显示技术已经量产。

OLED是电流器件,同样的显示信号,如果驱动晶体管的特性如阈值或迁移率等有差异,则在显示上会体现出来。

LTPS的ELA(准分子激光退火)工艺由于设备基台移动速度等的不均一性,退火后的多晶硅的特性随之出现不均一性,在显示的时候会出现不均一。

当前LTPS ELA不均问题的解决方法是在像素内做阈值电压补偿电路,以降低不均一性的程度。请参考图1。

当前的像素内做阈值电压补偿没有办法做到电流完全一致的效果。

单晶硅半导体器件特性一致性好,阀值电压稳定。

发明内容

本发明基于单晶硅衬底,由于单晶硅的TFT特性一致性好,阀值电压稳定,不需要复杂的补偿电路,因此能解决像素电路部份PPI的瓶颈。

通过多个子像素共用OLED图形或采用白光OLED加彩膜的方式,可以解决AMOLED蒸镀造成的分辨率的瓶颈。

附图说明:

附图1为当前主流的LTPS AMOLED 7T1C阈值电压补偿电路原理图。

附图2为本发明一实施例的器件结构图。

附图3为本发明一实施例的像素电路原理图。

附图4为本发明一实施例的子像素共用OLED蒸镀图形的示意图。

附图5为本发明一实施例的WOLED与彩膜方式的盖板玻璃封装方式的示意图。

具体实施方式

下面介绍的是本发明的多个实施例中的一部份,旨在提供对本发明的基本了解,并不旨在确认本发明的关键或决定性要素或限定所要保护的范围。根据本发明的技术方案,在不变更本发明的实质精神下,可以相互替换而得到其他的实现方式。在附图中,为了清楚起见,夸大了层与区域的厚度。也没有对图中所示的所有多个部件进行描述。附图中的多个部件为本领域普通技术人员能够实现的公开内容。实施例中的奇偶的定义旨在为了对显示内容的像素进行分类,奇偶的定义可相互调换。另外,方向性术语(如“上”,“下”,“横向”,“纵向”等)用来描述各种实施例表示附图中示出的方向,用于相对性的描述,而不是要将任何实施例的方向限定到具体的方向。如源漏极只是作为电极的区分,物理上是对称结构,可调换。

本发明的一实施例,请参考图2,在单晶硅衬底201上通过半导体工艺形成MOS管,包括源漏电极202,栅绝缘层203,栅极204。通过多次半导体沉积与刻蚀工艺形成多层导线205,206对MOS管各电极进行互连形成MOS管电路,金属层之间可形成像素显示状态存储电容212,在像素电路上方为OLED器件,其阳极207通过通孔连接到下方的MOS管电路,阳极金属可为Mo/ITO/Ag/ITO多层结构,阳极金属上有像素定义层PDL 208,通过曝光工艺进行图形化定义出像素发光区域。在PDL工艺后进行OLED器件209的蒸镀和阴极210的蒸镀。OLED器件上方为薄膜封装层211。像素电路可为2T1C结构,如图3。数据信号301在栅信号302到来时通过开关MOS管303写入存储电容304,存储的状态电压控制驱动MOS管306的电流大小,从而控制该像素OLED器件307电流的大小形成显示。子像素电路与周边像相同颜色子像素可共用OLED像素图形,如图4所示,像素401包括子像素R 402, G 403, B 404,子像素B 404与相邻像素408的子像素B 405共用一个RGB蒸镀图形B, 子像素G 403与像素409的G子像素407,像素410的子像素G 411, 像素412的子像素G 413共用一个G蒸镀图形。子像素R 402与G 403的共用方式类似,不再赘述。

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