[发明专利]一种断路器防跳回路测试装置及其控制方法

权利要求书

1.一种断路器防跳回路测试装置，其特征在于：包括电源指示模块（1）、告警模块（2）、合闸模块（3）、分闸模块（4）、测试按钮（5）、处理器（6）和电源模块（7）；

所述电源模块（7）为所述电源指示模块（1）、告警模块（2）、合闸模块（3）、分闸模块（4）和处理器（6）其提供电源；

所述处理器（6）采集所述测试按钮（5）的状态，在其控制下，指示所述合闸模块（3）和分闸模块（4）执行合闸和分闸操作；

所述电源指示模块（1）在所述处理器（6）控制下指示其电源供电情况；所述告警模块（2）在所述处理器（6）的控制下发出告警指示。

2.根据权利要求１所述的断路器防跳回路测试装置，其特征在于所述电源模块（7）包括开关电源MOD1，将外部交流220V电源分别转换为直流+5V和+24V输出提供直流+5V、+24V和-24V电源。

3.根据权利要求１所述的断路器防跳回路测试装置，其特征在于所述电源指示模块（1）包括发光二极管D1和电阻R1，所述发光二极管D1和电阻R1串联，一端接+5V直流电源，其另一端接所述处理器（6）的I/O口。

4.根据权利要求１所述的断路器防跳回路测试装置，其特征在于所述告警模块（2）包括发光二极管D2和电阻R4，所述发光二极管D2和电阻R4串联，一端接+5V直流电源，其另一端接所述处理器（6）的I/O口。

5.根据权利要求１所述的断路器防跳回路测试装置，其特征在于所述合闸模块（3）包括电阻R2、R3、光电耦合器N1A、发光二极管D3、继电器K1和合闸控制端子P1、P2；所述光电耦合器N1A的阴极经所述电阻R3接所述处理器（6）的I/O口，阳极接+5V直流电源，发射极接-24V电源，集电极依次经发光二极管D3和电阻R2接+24V直流电源；所述继电器K1的线圈接在+24V直流电源和所述光电耦合器N1A的集电极之间，常开触点接在所述合闸控制端子P1和P2之间。

6.根据权利要求１所述的断路器防跳回路测试装置，其特征在于所述分闸模块（4）包括电阻R5、R6、光电耦合器N1B、发光二极管D4、继电器K2和合闸控制端子P3、P4；所述光电耦合器N1B的阴极经所述电阻R6接所述处理器（6）的I/O口，阳极接+5V直流电源，发射极接-24V，集电极依次经发光二极管D4和电阻R5接+24V直流电源；所述继电器K2的线圈接在+24V直流电源和所述光电耦合器N1B的集电极之间，常开触点接在所述合闸控制端子P3和P4之间。

7.根据权利要求１所述的断路器防跳回路测试装置，其特征在于所述测试按钮为按键开关S1，一端接所述处理器（6）的I/O口，其另一端接地。

8.根据权利要求１所述的断路器防跳回路测试装置，其特征在于所述处理器（6）为单片机STC 12c5a32s2，其晶振电路包括晶振Y1和电容C2、C3；所述晶振Y1接在所述单片机STC 12c5a32s2的16引脚和17引脚之间，所述电容C2、C3一端接地，其另一端分别接所述单片机STC 12c5a32s2的16引脚和17引脚。

9.一种应用于权利要求1所述的断路器防跳回路测试装置中的断路器防跳回路测试控制方法，其特征在于包括以下步骤：

a．单片机初始化；

b．设备自检；

c．判断设备自检是否通过，如果没有通过，发出告警后，返回步骤b，否则继续执行后续步骤；

d．循环检测测试按钮S1是否按下，直到测试按钮S1按下后继续执行后续步骤；

e．闭合继电器K1，同时启动1s延时定时器；

f．循环检测1s延时定时器是否到时，直到定时器到时后继续执行后续步骤；

g．闭合继电器K2，同时启动1s和0.1s延时定时器；

i．循环检测0.1s延时定时器是否到时，直到定时器到时后继续执行后续步骤；；

j．循环检测1s延时定时器是否到时，直到定时器到时后继续执行后续步骤；

h．打开继电器K1，复位所有定时器，转向步骤d。