[发明专利]一种断路器防跳回路测试装置及其控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种断路器辅助测试装置，尤其是一种断路器防跳回路测试装置。 

背景技术

高压断路器合闸操作后，由于手和或遥合接点粘连等原因，造成合闸输出端一直带有合闸电压。此时，开关因故障断开后，受合闸电压影响，会马上闭合，形成“开关跳跃”，即开关反复断开/闭合操作。断路器瞬时多次分合闸操作，对断路器造成极大的损伤，严重时还会发生开关爆炸。防跳回路有效防止断路器合闸过程中发生“开关跳跃”现象发生，确保每次合闸操作时断路器只能进行一次合闸操作。继电保护专业在进行断路器的基建验收与检修预试工作中，断路器防跳回路测试是必不可少的一项检验内容。 

工作人员沿用传统方法进行检验，工作至少需要三人配合完成。需要第一人在继电保护屏后手持二次回路实验线短接继电保护装置合闸回路，该步骤模拟断路器送电时手合断路器的过程；需要第二人在继电保护屏后手持二次回路实验线瞬时短接保护装置跳闸回路，然后快速断开该实验线，模拟断路器送电时手合于故障，继电保护装置出口跳闸的过程；需要第三人在继电保护装置前核对开关位置是否正确，并进行录波信号查看。 

传统方法中，需要工作人员在保护屏后端子排处进行操作，保护屏后端子排排列密集，端子可能为直流正电端，也可能为直流负电端，还可能带交流电或是接地线，在工作人员使用二次回路实验线进行短接二次回路操作时，极容易接错端子，由于该操作过程为带电操作，一旦短接错误的端子，则可能造成两组直流回路之间短路、直流回路接地或导致交直流回路之间短路，对整个变电站的交直流系统的稳定性造成巨大破坏；继电保护屏后空间狭小，两人同时操作不便利，互相干扰；由于继电保护装置出口跳闸时间较短，工作人员手持二次回路实验线短接继电保护装置跳闸回路的过程，在时间上难以准确模拟继电保护装置出口跳闸的过程；若实验中的断路器防跳功能失效，手持二次回路实验线短接继电保护装置跳闸出口的时间过长，会造成断路器瞬时的多次分合闸，对断路器造成极大的损伤；另外，该工作需要三人配合完成，需要的人数多，配合难度大，时间较长，多次跳合闸对断路器造成损坏。 

可见，急需一种测试装置自动完成断路器防跳回路测试。 

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种能够安全、简便、准确、测试断路器防跳回路性能的自动装置。 

本发明所采取的技术方案是： 

一种断路器防跳回路测试装置，其特征在于：包括电源指示模块、告警模块、合闸模块、分闸模块、测试按钮、处理器和电源模块；

电源模块为电源指示模块、告警模块、合闸模块）、分闸模块和处理器其提供电源；

处理器采集测试按钮的状态，在其控制下，指示合闸模块和分闸模块执行合闸和分闸操作；

电源指示模块在处理器控制下指示其电源供电情况；告警模块在处理器的控制下发出告警指示。

电源模块包括开关电源MOD1，将外部交流220V电源分别转换为直流+5V和+24V输出提供直流+5V、+24V和-24V电源。 

电源指示模块包括发光二极管D1和电阻R1，发光二极管D1和电阻R1串联，一端接+5V直流电源，其另一端接处理器的I/O口。 

告警模块包括发光二极管D2和电阻R4，发光二极管D2和电阻R4串联，一端接+5V直流电源，其另一端接处理器的I/O口。 

合闸模块包括电阻R2、R3、光电耦合器N1A、发光二极管D3、继电器K1和合闸控制端子P1、P2；光电耦合器N1A的阴极经电阻R3接处理器的I/O口，阳极接+5V直流电源，发射极接-24V电源，集电极依次经发光二极管D3和电阻R2接+24V直流电源；继电器K1的线圈接在+24V直流电源和所述光电耦合器N1A的集电极之间，常开触点接在合闸控制端子P1和P2之间。 

分闸模块包括电阻R5、R6、光电耦合器N1B、发光二极管D4、继电器K2和合闸控制端子P3、P4；光电耦合器N1B的阴极经电阻R6接处理器的I/O口，阳极接+5V直流电源，发射极接-24V，集电极依次经发光二极管D4和电阻R5接+24V直流电源；继电器K2的线圈接在+24V直流电源和所述光电耦合器N1B的集电极之间，常开触点接在合闸控制端子P3和P4之间。 

测试按钮为按键开关S1，一端接处理器的I/O口，其另一端接地。 

处理器为单片机STC 12c5a32s2，其晶振电路包括晶振Y1和电容C2、C3；晶振Y1接在单片机STC 12c5a32s2的16引脚和17引脚之间，电容C2、C3一端接地，其另一端分别接单片机STC 12c5a32s2的16引脚和17引脚。