[发明专利]防止篡改集成电路的系统有效

专利信息
申请号: 201410238294.1 申请日: 2014-05-30
公开(公告)号: CN104217179B 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: M·阿罗拉;P·巴拉加瓦;R·布杉 申请(专利权)人: 恩智浦美国有限公司
主分类号: G06F21/76 分类号: G06F21/76
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 郭思宇
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 防止 篡改 集成电路 系统
【权利要求书】:

1.一种用于生成表示篡改集成电路IC的一个或多个电路的篡改检测信号的系统,包括:

用于基于预定算法生成多个串行位流的篡改检测模块;以及

被连接到所述篡改检测模块并且被放置为距所述一个或多个电路预定距离的多个导线对,

其中所述多个导线对中的第一对的第一和第二导线的第一端分别被连接到所述篡改检测模块的第一和第二输出端,用于分别接收所述多个串行位流中的第一串行位流和第二串行位流,

其中所述第一和第二导线的第二端分别被连接到所述篡改检测模块的第一和第二输入端,用于向所述篡改检测模块提供第三串行位流和第四串行位流,

并且其中所述篡改检测模块将所述第一串行位流和所述第三串行位流以及将所述第二串行位流和所述第四串行位流进行比较并生成所述篡改检测信号,

所述导线对连续收到不同的位序列,所述位序列快速变化。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述篡改检测模块包括用于执行所述预定算法的线性反馈移位寄存器LFSR。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一串行位流和第二串行位流有预定的重复频率。

4.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一串行位流是所述第二串行位流的补码。

5.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个导线对被布置以形成线网。

6.根据权利要求5所述的系统,其中所述线网降低微探针对所述一个或多个电路的可达性。

7.根据权利要求1所述的系统,其中所述篡改检测模块还包括比较器,用于将所述第一串行位流和所述第三串行位流以及将所述第二串行位流和所述第四串行位流进行比较,以生成所述篡改检测信号。

8.根据权利要求1所述的系统,其中所述一个或多个电路与所述IC的存储模块相关联。

9.根据权利要求8所述的系统,其中所述篡改检测模块基于所述篡改检测信号激活用于擦除存储在所述存储模块中的一个或多个值的存储器擦除序列。

10.根据权利要求1所述的系统,其中篡改所述一个或多个电路包括微探测所述一个或多个电路。

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