[发明专利]防止篡改集成电路的系统

说明书

用于生成表示篡改集成电路(IC)的一个或多个电路的篡改检测信号的系统，包括篡改检测模块，以及被连接到所述篡改检测模块并且被布置成线圈配置以形成线网的导线对。所述线网被放置在距电路预定距离处。所述篡改检测模块生成并向导线对提供串行位流以检测通过外部探针对所述线网的破坏。

技术领域

本发明通常涉及集成电路，更具体地说，涉及用于防止对集成电路的篡改的系统。

背景技术

集成电路(IC)，例如在机顶盒、发动机控制单元(ECU)和加密系统中使用的，通常存储敏感信息，包括个人资料、金融交易授权码、安全密码和安全会话密钥，因而很容易受到黑客的非法访问。一种被黑客用于访问位于IC中的信息的已知技术是微探测。微探测涉及通过将细尖探针直接落在IC感兴趣的点上、或落在感兴趣的点所连接的IC的区域以形成与IC的电接触。探针是由微操纵器保持的，其中该操纵器被黑客控制以精确地将探针落在IC上。

为了保护IC免于微探测，静态线网被设计放置在靠近IC的地方。图1A是传统静态线网系统100的示意方框图。静态线网系统100包括传统篡改检测模块102、静态线网104以及第一和第二组导线106和108。第一组导线106包括第一导线段110而第二组导线108包括第二导线段112。

第一组导线106被连接到电压源(VDD)和篡改检测模块102的低活性篡改线，而第二组导线108被连接到接地端(GND)和篡改检测模块102的高活性篡改线。与第一和第二组导线106和108相关联的导线段，也就是，第一和第二导线段110和112，被放置在交替模式以形成静态线网104，其中该静态线网保护了IC(未显示)免于通过探测的未授权访问。导线段110、112被放置，以便任何两个相邻导线段位于不同的电位并且相邻导线段之间的间距足够小以防止探针(未显示)穿透静态线网104，而不与任何导线段接触。探针与任何导线段的接触导致相应的篡改线，即，高与低活性篡改线，被激活，这反过来又引发了擦除了IC中的敏感信息的自擦除序列。

图1B是静态线网系统100被修改以进行微探测之后的示意方框图。除了被描绘为图1A的一部分的元件，静态线网系统100包括第一至第四导线连接器114a-114d。图1B还显示了穿过线网系统100的微探针116。

与第一组导线106相关联的导线段通过使用第一和第三导线连接器114a和114c被短路而与第二组导线108相关联的导线段通过使用第二和第四线的连接器114b和114d被短路。在第一和第三导线连接器114a和114c之间以及第二和第四导线连接器114b和114d之间的导线长度被切断以形成对于微探针116的侵入来说是足够大的空隙。由于导线段被短路，传统篡改检测模块102未检测到导线段的切割，并且因此未检测到微探针116的侵入。

虽然静态线网在阻挠直接微探测的尝试方面是有效的，用于检测侵入的静电电压使得静态线网容易被切断并且被容易地绕过。而且，由于导线段位于恒定电位，黑客具有时间进行短路并切割导线段，而没有激活篡改线和引发自擦除序列。

因此，具有不使用被容易地绕过的静电电压进行微探针检测、并且克服了传统静态线网的上述局限性的线网将是有利的。

附图说明

结合附图，对本发明优选实施例的以下详细说明书会有更好的理解。本发明通过举例的方式说明并没有被附图所限制，在附图中，相同的参考符号表示类似的元件。

图1A是传统静态线网系统的示意方框图；

图1B是所述传统静态线网系统被修改以使能微探测的示意方框图；以及

图2根据本发明的一个实施例，是用于生成篡改检测信号的系统的示意方框图。

具体实施方式

附图的详细说明书旨在作为本发明当前优选实施例的说明书，而并非旨在表示本发明在其中被实施的唯一形式。应了解，相同或等价功能或可由旨在包括在本发明精神和范围内的不同实施例来实现。