[发明专利]一种干涉圆迹SAR高程估计处理方法有效
申请号: | 201410238847.3 | 申请日: | 2014-05-30 |
公开(公告)号: | CN104007439B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 刘燕;林赟;谭维贤;洪文;王彦平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 干涉 sar 高程 估计 处理 方法 | ||
1.一种干涉圆迹SAR高程估计方法,该方法包括:
步骤1,粗估计出场景DEM,作为首次干涉处理时成像采用的参考场景DEM;
步骤2,在参考场景DEM的基础上,对InSAR平台主、副天线分别独立进行BP成像,其中采用分子孔径的方式对主副天线获取的圆迹SAR数据进行BP成像,每n度为一个子孔径,得到360/n个子孔径复图像对,n是大于等于1的自然数;
步骤3,对于每个子孔径复图像对,进行干涉处理;
步骤4,将步骤3获得的各子孔径复图像对干涉处理估计的场景DEM,根据其干涉系数的大小,进行加权平均,得到360度观测下的场景DEM;
步骤5,将步骤4估计出的场景DEM,作为步骤2中的参考场景DEM,重复步骤2到4若干次,直到干涉图像的干涉系数不再下降。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤1采用立体像对测量法粗估计出场景DEM。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤1进一步包括:将360度雷达平台轨迹圆环划分为多段圆弧,对每段圆弧分割为多个子孔径,利用子孔径图像间的相似性,通过相关系数最大法,在其他子孔径图像上寻找与中心图像匹配的像素点,得到二者的位置偏移,进而提取地面场景的DEM。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,步骤3进一步包括:
步骤31,将步骤2得到的子孔径复图像对进行共轭相乘,得到干涉图像;
步骤32,去除干涉图像中干涉系数低的区域;
步骤33,对经步骤32处理后的干涉图像进行滤波去噪;
步骤34,在步骤2获取的复图像对的基础上进行基线估计;
步骤35,基于所述基线估计,反演参考地形与真实地形的相对高度信息,然后进行地面位置校正。
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