[发明专利]斜入射反射型点衍射板及其干涉测量方法

说明书

技术领域

本发明属于光干涉计量技术领域，特别是一种斜入射反射型点衍射板及其干涉测量方法。

背景技术

瞬态激光波前检测在激光核聚变、天文观测、现代医学技术中发挥了巨大的作用，如何测量瞬态波前以及提高波前测量精度一直是学术界的热点问题。目前主要采用干涉仪测量激光瞬态波前，所不同的是干涉测量的手段不同。同步移项点衍射干涉是较常用的一种干涉测量方法，测量过程为：将激光通过会聚透镜聚焦到偏振式点衍射板上，一部分光通过极小孔径衍射形成近乎理想的球面波作为测试基准波前，另一部分光直接透过点衍射板作为测试光，点衍射板出射的一对相干光束由二维正交光栅衍射，经空间滤波器形成四对相同的相干光束，利用四分之一波片与偏振片阵列组件对上述相干光束同步移相，形成四幅位相依次相差π/2的移相干涉图，通过相应的移向算法即可得到瞬态波前。该方法摆脱了参考面精度的限制，能够达到极高的检测精度，但是偏振式点衍射板的制作极为困难，系统结构复杂，导致该方法成本过高，不能得到普遍应用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种精度高、成本低的斜入射反射型点衍射板及其干涉测量方法，测试过程简单方便且易于实现。

实现本发明目的技术解决方案为：一种斜入射反射型点衍射板，该点衍射板的基底采用折射率均匀的光学玻璃，且该光学玻璃为厚度为h的平行平板结构；所述基底的入射面上部镀有透过率为t₁的增透膜、下部镀有透过率为r₁的介质膜，基底的反射面上部镀有反射率为r₂的高反膜、下部镀有透过率为t₂的增透膜；所述入射面下部的介质膜内设有一个椭圆孔，该椭圆孔的中心到入射面上部增透膜的距离为d；所述基底反射面上部的高反膜在入射面上的投影与入射面下部的介质膜部分重叠，使反射面上部的高反膜只将入射光反射一次。

一种基于斜入射反射型点衍射板的干涉测量方法，采用上述的斜入射反射型点衍射板进行干涉测量，步骤如下：

(1)调整点衍射板的位置，使会聚光束焦面位于点衍射板的入射面与反射面之间，调整点衍射板入射面法线与会聚光束光轴之间的夹角为θ，使得会聚光束经反射面上半部分的高反膜进行反射，并且产生的反射光能够经过椭圆孔衍射，同时由入射面下半部分的介质膜产生的反射光能够经过反射面下半部分的增透膜透射出去；

(2)用探测器采集载频干涉图，通过成像透镜将光束出瞳处的波前干涉图成像到探测器靶面，得到包含横向错位与纵向错位的球面波叠加的载频干涉图；

(3)利用干涉图恢复波前相位，对干涉图进行傅里叶变换，取+1或-1级旁瓣然后进行傅里叶逆变换即可恢复波前相位；

(4)采用Zernike拟合方法对步骤(3)所得的波前相位进行波面拟合，消除波面边缘的吉布斯效应并得到波面包含的像差信息；

(5)计算两个错位标准球面波的干涉光程差，得到消去倾斜与离焦后的波面误差即系统误差，通过载频干涉图中的线性载频数L与系统误差之间的关系标定系统误差。

本发明与现有技术相比，其显著优点为：(1)点衍射板选用玻璃平板作为基底，易于获得；(2)基底上所镀膜层为普通的增透膜与高反膜，成本低，镀制精度高；(3)高反膜上小孔为普通侵蚀小孔，易于制作；(4)干涉测量光路简单，结构紧凑，无需参考镜，测试结果精度高；(5)测试过程简单，调整方便，对环境的要求较低，使测试更容易实现。

附图说明

图1是本发明斜入射反射型点衍射板的结构示意图，其中(a)为衍射板入射面的主视图，(b)为图(a)中沿A-A’的剖视图，(c)为小孔局部放大图。

图2是本发明会聚物镜标定光路示意图。

图3是本发明激光瞬态波前检测光路示意图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。

结合图1，本发明斜入射反射型点衍射板，该点衍射板的基底采用折射率均匀的光学玻璃，且该光学玻璃为厚度为h的平行平板结构，其中h如下式所示：