[发明专利]发光二极体的量测装置在审
申请号: | 201410250400.8 | 申请日: | 2014-06-06 |
公开(公告)号: | CN104075879A | 公开(公告)日: | 2014-10-01 |
发明(设计)人: | 张晋源;曾家彬;翁思渊;王遵义;张添登 | 申请(专利权)人: | 致茂电子(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01J1/04 |
代理公司: | 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 | 代理人: | 袁辉 |
地址: | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 二极体 装置 | ||
1.一种发光二极体的量测装置,用于量测多个覆晶式发光二极体,其特征在于:该些覆晶式发光二极体之间皆具有一间隙,该发光二极体的量测装置包含:
一晶片膜,承载该些覆晶式发光二极体;
一光检测装置,设置于该晶片膜相对该些覆晶式发光二极体的一侧,该光检测装置具有一收光口;以及
一遮光元件,设置于该收光口,该遮光元件具有一透光区与一遮光区,该遮光区环绕该透光区,其中该透光区的面积可涵盖单一覆晶式发光二极体与该间隙的部分范围。
2.根据权利要求1所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中该遮光元件为一板材,且该透光区为一开口。
3.根据权利要求2所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中该开口的内壁越靠近该光检测装置其口径越大。
4.根据权利要求3所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中该遮光元件更包含一反射层,形成于该开口的内壁。
5.根据权利要求1所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中该遮光元件包含:
一透明载体;以及
一遮光层,形成于该透明载体相对该光检测装置的表面,其中该遮光层仅位于该遮光区中。
6.根据权利要求1所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中该光检测装置为一积分球。
7.根据权利要求1所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中该光检测装置包含:
一反射腔,具有该收光口;以及
一光侦测器,设置于该反射腔中。
8.根据权利要求1所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中该光检测装置包含:
一反射腔,具有该收光口;以及
一太阳能板,设置于该反射腔中。
9.根据权利要求1所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:更包含:
一探针组,设置于该些覆晶式发光二极体相对该光检测装置的一侧。
10.根据权利要求9所述的发光二极体的量测装置,其特征在于:其中当该探针组接触该些覆晶式发光二极体时,该遮光元件支撑该晶片膜使该探针组与该些覆晶式发光二极体电性连接。
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