[发明专利]一种可控自形成Cu3Ge/TiN双层扩散阻挡层制备方法有效
申请号: | 201410254176.X | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN104022075A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 刘波;张彦坡;林黎蔚 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610065 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可控 形成 cu sub ge tin 双层 扩散 阻挡 制备 方法 | ||
1.一种可控自形成Cu3Ge/TiN双层扩散阻挡层,先通过在常温下利用气相物理沉积技术获取Cu(Ge,Ti)合金,随后对其在N2气氛下控温退火处理自反应合成Cu3Ge/TiN双层扩散阻挡层,其特征在于包含以下步骤:
a、清洗衬底材料:
将衬底材料Si(111)基体依次放入丙酮、无水乙醇中分别进行30分钟超声波清洗,干燥后放入真空室内,抽真空度至4.5×10-4 Pa;
b、沉积前对衬底的处理:
保持真空室真空为4.5×10-4 Pa条件下,采用偏压反溅射清洗10分钟、预溅射清洗5分钟,去除Si衬底和靶材表面杂质;反溅射功率为100-200 W;预溅射功率为100-200 W;反溅射偏压和预溅射偏压分别为-500 V、-150 V;反溅射和预溅射气体均为Ar;工作真空度为1.0-3.0 Pa;
c、沉积Cu(Ge,Ti)合金层:
采用气相物理共溅射技术,在步骤b得到的Si(111)基体上使用磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶共溅射沉积Cu(Ge,Ti)合金层,沉积时间30-40秒;磁控Cu靶溅射功率为120-150 W;磁控Ge靶的溅射功率为100-120 W;直流Ti靶溅射功率为80-100 W;偏压为-100到-300 V之间;工作气氛Ar,Ar流量为180 标准立方厘米/分钟(sccm);工作真空度为0.40-0.50 Pa;沉积完成后关闭磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶,关闭气体Ar,恢复反应室真空为4.5×10-4 Pa,冷却后出炉样品即为Cu(Ge,Ti)合金层;
d、控温N2气氛退火反应自形成Cu3Ge/TiN双层阻挡层:
采用真空退火炉退火处理,本底真空为4.5×10-3 Pa,随后退火炉腔内通入N2气,N2气流量为260 标准立方厘米/分钟(sccm),设置在300 ℃和400 ℃段各保温10分钟,升温速率为5 ℃/秒;退火处理后随炉冷却,即能获得自形成Cu3Ge/TiN双层扩散阻挡层。
2.根据权利要求1所述自形成阻挡层用Cu(Ge,Ti)合金制备工艺,其特征在于:所述磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶纯度均为99.99%。
3.根据权利要求1所述自形成阻挡层用Cu(Ge,Ti)合金制备工艺,其特征在于:采用磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶共溅射沉积的方法,磁控Cu靶、磁控Ge靶与真空腔中心轴线方向呈45?夹角,直流Ti靶与真空腔中心轴线方向一致。
4.根据权利要求1所述自形成阻挡层Cu(Ge,Ti)合金制备工艺,其特征在于:沉积过程中通过调节各磁控靶及直流靶的功率来控制Cu(Ge,Ti)合金中各组元的成分,磁控Cu靶溅射功率为150 W,磁控Ge靶溅射功率为120 W,直流Ti靶溅射功率为80 W。
5.根据权利要求1所述对Cu (Ge,Ti)合金控温退火反应,自形成Cu3Ge/TiN双层阻挡层工艺,其特征在于:步骤d中真空退火炉本底真空为4.5×10-3 Pa,随后退火炉通入N2气, N2流量为260 标准立方厘米/分钟(sccm), 设置在300 ℃和400 ℃段各保温10分钟,升温速率为5 ℃/秒;退火处理后随炉自然冷却,即能获得自形成Cu3Ge/TiN双层扩散阻挡层。
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