[发明专利]用于集成无源器件的测试板以及测试方案有效
申请号: | 201410256680.3 | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN105203852B | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 杜天敏;陆原;刘丰满 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所;华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01R27/02 |
代理公司: | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 集成 无源 器件 测试 以及 方案 | ||
1.一种用于集成无源器件的测试板,包括测试结构和校准结构,其特征在于:所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上,并且与所述测试结构的布局相同,所述校准结构包括开路校准结构和短路校准结构,所述短路校准结构的端子之间具有短路布线,其中,所述测试结构包括第一端子、第二端子以及第一互连布线,所述第二端子位于所述第一端子外围、并且通过所述互连布线与所述第一端子电连接,所述校准结构包括第三端子、第四端子以及第二互连布线,所述第三端子和第四端子的相对位置关系、与所述第一端子和第二端子的相对位置关系相同,所述第二互连布线与所述第一互连布线长度以及方向相同。
2.如权利要求1所述的用于集成无源器件的测试板,其中,所述校准结构位于所述测试板的角落或者侧边处,或者与所述测试结构间隔排列。
3.如权利要求1所述的用于集成无源器件的测试板,其中,所述校准结构与所述测试结构的形成工艺以及材料相同。
4.一种用于集成无源器件的测试系统,包括:
测试板,包括测试结构和校准结构,所述校准结构位于所述测试结构周围、并且与所述测试结构的布局相同,所述校准结构包括开路校准结构和短路校准结构,所述短路校准结构的端子之间具有短路布线;
测试仪,通过电缆和探针与所述测试板电连接;
待测的集成无源器件,通过所述测试结构与所述测试板电连接,
其中,所述测试结构包括第一端子、第二端子以及第一互连布线,所述校准结构包括第三端子、第四端子以及第二互连布线,所述第三端子和第四端子的相对位置关系、与所述第一端子和第二端子的相对位置关系相同,所述第二互连布线与所述第一互连布线长度以及方向相同。
5.如权利要求4所述的用于集成无源器件的测试系统,其中,所述测试仪倒装安装在所述测试板的测试结构上。
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