[发明专利]校正触控面板边缘的坐标值的方法与触控装置有效
申请号: | 201410268064.X | 申请日: | 2014-06-16 |
公开(公告)号: | CN105159484B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 刘子维 | 申请(专利权)人: | 晨星半导体股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 徐伟 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校正 面板 边缘 坐标 方法 装置 | ||
1.一种校正触控面板边缘的坐标值的方法,包含:
计算发生在触控面板边缘的近接事件所对应的计算坐标与投影面积以得出电容变化总和的平方根;
根据该计算坐标与电容变化总和的平方根,自查找表所包含的多个第一线性函数当中选出第一线性函数;以及
根据该第一线性函数与该计算坐标得出真实坐标;
其中,该查找表包含对应到多个电容变化总和的平方根的该多个第一线性函数的斜率与起始点,以及该投影面积相关于该触控面板的至少一电容变化量。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该计算坐标与该真实坐标对应于该触控面板的一个轴向,该触控面板包含沿着该轴向排列的多个感测电极单元,用以感测该触控面板的多个电容变化量。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该查找表更包含多个第二线性函数的斜率与起始点,得出该电容变化总和的平方根的步骤包含:
根据该计算坐标与该投影面积,自该查找表所包含的该多个第二线性函数当中选出第二线性函数;以及
根据该第二线性函数与该计算坐标得出该电容变化总和的平方根。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,对应到同一该电容变化总和的平方根的该多个第一线性函数所对应的计算坐标的区间各不相同。
5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,对应到同一该投影面积的该多个第二线性函数所对应的计算坐标的区间各不相同。
6.一种可校正触控面板边缘的坐标值的触控装置,包含:
内存模块,包含查找表,其包含对应到多个电容变化总和的平方根的多个第一线性函数的斜率与起始点;以及
连接至该触控面板与该内存模块的处理模块,该处理模块用于执行下列步骤:
计算发生在触控面板边缘的近接事件所对应的计算坐标与投影面积以得出电容变化总和的平方根;
根据该计算坐标与电容变化总和的平方根,自该查找表所包含的多个第一线性函数当中选出第一线性函数;以及
根据该第一线性函数与该计算坐标得出真实坐标。
7.如权利要求6所述的触控装置,其特征在于,计算坐标与该真实坐标对应于该触控面板的一个轴向,该触控面板包含沿着该轴向排列的多个感测电极单元,用以感测该触控面板的多个电容变化量。
8.如权利要求6所述的触控装置,其特征在于,该查找表更包含多个第二线性函数的斜率与起始点,得出该电容变化总和的平方根的步骤包含:
根据该计算坐标与该投影面积,自该查找表所包含的该多个第二线性函数当中选出第二线性函数;以及
根据该第二线性函数与该计算坐标得出该电容变化总和的平方根。
9.如权利要求6所述的触控装置,其特征在于,对应到同一该电容变化总和的平方根的该多个第一线性函数所对应的计算坐标的区间各不相同。
10.如权利要求8所述的触控装置,其特征在于,对应到同一该投影面积的该多个第二线性函数所对应的计算坐标的区间各不相同。
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