[发明专利]一种探针器件和检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示器件的检测技术领域，尤其涉及一种探针器件和检测装置。

背景技术

阵列工艺是薄膜晶体管液晶显示(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)装置制造过程中的一个阶段。在阵列工艺中，需要在玻璃基板上形成薄膜晶体管阵列电路。阵列电路的优劣直接决定了薄膜晶体管液晶显示屏的品质，对于阵列电路的检测也就成为制造流程中的重要工序。

如图1所示为现有技术中阵列电路的检测装置。所述检测装置包括多个探针器件和用来固定探针器件的探针框架；其中，所述探针器件包括：探针头部11和探针主体12。检测过程中，通过探针头部的探针与液晶面板上的信号加载结构相接触，使得测试信号加载到阵列电路中。在实际应用中，由于TFT-LCD阵列基板的多样性，探针框架的设计也就多种多样，探针的分布可以为左右排列方式、上行排列方式，还可以为四周排列方式；特殊地，某些探针框架中央部位也存在横梁和竖梁，上面安装有一定数量的探针，以满足不同电路的需求。

然而，由于各代生成线中基板尺寸固定，检测设备基台一旦完成设计，其尺寸就已固定。在薄膜晶体管液晶显示装置的开发设计中，基板高利用率的设计会使液晶面板上的信号加载结构靠近基板的边缘，此时，由于探针框架和探针主体都会占据一定的空间，且由于探针头部位于探针主体的正中间，因此处于边缘的探针器件就可能由于受探针框架和探针主体的位置限制，不能通过探针头部将测试信号加载到处于基板边缘的信号加载结构中，从而影响阵列电路的检测过程，降低阵列基板检测的成功率，影响生产效率。

发明内容

本发明实施例提供了一种探针器件和检测装置，用于解决现有技术中因受探针主体的位置限制而导致的不能将测试信号加载到阵列基板中的问题。

本发明实施例提供了一种探针器件，包括：

所述探针器件包括：探针头部和探针主体；所述探针器件还包括用于连接所述探针头部和所述探针主体、并根据需要改变所述探针头部和探针主体的相对位置的连接部。

本发明实施例提供的探针器件中，包括探针头部、探针主体和用于连接所述探针头部和所述探针主体、并根据需要改变所述探针头部和探针主体的相对位置的连接部。通过所述连接部，可以将所述探针头部和探针主体固定连接，并且当探针头部需要与位于基板边缘的信号加载结构接触加载测试信号时，通过所述连接部调整所述探针头部与探针主体的相对位置，将所述探针头部固定到所述探针主体的靠近基板的边缘一侧、与所述位于基板边缘的信号加载结构相对应的位置，使得所述探针头部与所述信号加载结构相接触，将测试信号加载到所述处于基板边缘的信号加载结构中，从而有效的解决了现有技术中因探针头部位于探针主体的正中间，受所述探针主体位置的限制而造成的不能将测试信号加载处于基板边缘的信号加载结构中的问题，提高了阵列基板的检测成功率和生产效率。

较佳的，所述连接部包括设置在所述探针主体上的第一子连接结构，和设置在所述探针头部、与所述第一子连接结构相匹配的第二子连接结构，所述探针头部和探针主体通过所述第一子连接结构和所述第二子连接结构连接。

由于所述连接部包括设置在所述探针主体上的第一子连接结构，和设置在所述探针头部、与所述第一子连接结构相匹配的第二子连接结构，使得可以通过连接所述第一子连接结构和第二子连接结构进而实现所述探针头部与探针主体的连接。

较佳的，所述第二子连接结构上设置有一凸形结构；

所述第一子连接结构上设置有与所述凸形结构相匹配的、供所述凸形结构滑动的凹槽，使得所述凸形结构在所述凹槽中滑动；或者，所述第一子连接结构上设置有多个与所述凸形结构相匹配的凹形结构。

当所述第二子连接结构上设置有一凸形结构，所述第一子连接结构上设置有与所述凸形结构相匹配的、供所述凸形结构滑动的凹槽时，通过在所述凹槽中滑动所述凸形结构改变所述探针头部与探针主体的相对位置，以解决现有技术中因受探针主体的位置限制，探针头部不能与液晶面板上的信号加载结构接触而导致的测试信号不能成功加载的问题。或者，当所述第二子连接结构上设置有一凸形结构，所述第一子连接结构上设置有多个与所述凸形结构相匹配的凹形结构时，通过将所述凸形结构放置在不同的凹形结构中，将所述第一子连接结构与所述第二子连接结构通过卡接方式连接，来改变所述探针头部与探针主体的相对位置，以解决现有技术中因受探针主体的位置限制，探针头部不能与液晶面板上的信号加载结构接触而导致的测试信号不能成功加载的问题。