[发明专利]一种精细操作系统及其距离测量的方法有效

专利信息
申请号: 201410276124.2 申请日: 2014-06-19
公开(公告)号: CN104048643A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 刘明 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 刁文魁;唐秀萍
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 精细 操作系统 及其 距离 测量 方法
【权利要求书】:

1.一种精细操作系统,其特征在于,所述精细操作系统包括:

移动设备,用于对待处理物品进行精细操作或精细检测;

操作平台,用于承载所述待处理物品;

测距装置,用于检测所述移动设备与所述待处理物品表面之间的距离,其包括:

图像接收器,其具有一图像接收平面,所述图像接收平面与所述操作平台的承载面平行;以及

透镜,所述透镜的主光轴与所述图像接收平面垂直,所述透镜的光心与所述图像接收平面的距离为一预设距离;以及

位置调节器,用于调整所述测距装置与所述操作平台之间的距离,使得所述图像接收平面上的所述待处理物品的成像大小与所述待处理物品的沿透镜的光轴投影的图像大小相同。

2.根据权利要求1所述的精细操作系统,其特征在于:其中,所述测距装置具有一初始位置;

所述测距装置的初始位置为:沿第一直线方向的所述透镜的横截面和所述移动设备的底部所在的平面处于同一参考平面;其中,所述第一直线为:与所述透镜主光轴垂直且经过的所述透镜的光心的直线;

所述位置调节器还用于以所述参考平面为基准位置调整所述测距装置与所述操作平台之间的距离。

3.根据权利要求2所述的精细操作系统,其特征在于:所述测距装置沿所述透镜的光轴方向靠近所述操作平台或者远离所述操作平台。

4.根据权利要求1所述的精细操作系统,其特征在于:所述预设距离为所述透镜的焦距的2倍。

5.根据权利要求1所述的精细操作系统,其特征在于:所述透镜为凸透镜或者凹透镜。

6.一种使用精细操作系统进行距离测量的方法,所述精细操作系统包括:

移动设备,用于对待处理物品进行精细操作或精细检测;

操作平台,用于承载所述待处理物品;

测距装置,用于检测所述移动设备与所述待处理物品表面之间的距离,其包括:

图像接收器,其具有一图像接收平面,所述图像接收平面与所述操作平台的承载面平行;以及

透镜,所述透镜的主光轴与所述图像接收平面垂直,所述透镜的光心与所述图像接收平面的距离为一预设距离;以及

位置调节器,用于调整所述测距装置与所述操作平台之间的距离,使得所述图像接收平面上的所述待处理物品的成像大小与所述待处理物品的沿透镜的光轴投影的图像大小相同;

其特征在于,所述距离测量的方法包括:

所述位置调节器通过移动所述测距装置,调整所述测距装置与所述操作平台之间的距离,以使得所述图像接收平面上的所述待处理物品的成像大小与所述待处理物品的沿透镜的光轴投影的图像大小相同;

获取所述测距装置的移动距离,并将所述移动距离作为第一距离;

根据所述第一距离以及所述透镜的焦距,获得第二距离,其中所述第二距离为所述移动设备与所述待处理物品之间的距离;以及

根据所述第二距离,校准所述移动设备,以进行精细操作或精细检测。

7.根据权利要求6所述的距离测量的方法,其特征在于:其中,所述测距装置具有一初始位置;

所述测距装置的初始位置为:沿第一直线方向的所述透镜的横截面和所述移动设备的底部所在的平面处于同一参考平面;所述第一直线为与所述透镜主光轴垂直且经过的所述透镜的光心的直线;

所述位置调节器还用于以所述参考平面为基准位置调整所述测距装置与所述操作平台之间的第一距离。

8.根据权利要求7所述的距离测量的方法,其特征在于:所述根据所述第一距离以及所述透镜的焦距获得第二距离的步骤,还包括:

当沿所述透镜的光轴方向,移动所述测距装置靠近所述操作平台时,所述第二距离等于所述第一距离与所述透镜的焦距的两倍之和;

当沿所述透镜的光轴方向,移动所述测距装置远离所述操作平台时,所述第二距离等于所述透镜的焦距的两倍减去所述第一距离。

9.根据权利要求6所述的距离测量的方法,其特征在于:所述预设距离为所述透镜的焦距的2倍。

10.根据权利要求6所述的距离测量的方法,其特征在于:所述透镜为凸透镜或者凹透镜。

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