[发明专利]一种次临界系统次临界度的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及测量次临界系统次临界度的测量技术领域，尤其涉及一种次临界系统次临界度的测量方法。

背景技术

源倍增法是一种测量次临界系统次临界度水平的方法。对于有外源的系统，其需要一个次临界度ρ₀和探测器的归一化计数R₀已知的参考态，然后在知道待测状态的归一化计数R₁之后，可以通过如下的公式1计算得到待测状态的次临界度ρ₁。

ρ1=R0R1ρ0---(1)]]>

由于其原理与实施简单易行，且不需额外的堆芯参数，故其被认为是实现次临界堆芯次临界度在线测量的有效手段。但是对于传统的源倍增方法，在同一次临界度水平下，当通量形状发生不同畸变时，探测器计数有很大不同，进而测量结果也会有很大不同。这样，对于未知原因造成的通量畸变，传统的源倍增法可能给出错误的结果，给安全带来潜在的威胁。

发明内容

本发明提供一种次临界系统次临界度的测量方法，用以对于未知原因造成的通量畸变，传统的源倍增法可能给出错误的结果，给安全带来潜在的威胁的问题。

一方面，本发明提供的一种次临界系统次临界度的测量方法，包括如下步骤：

(1)、将至少两个相同的探测器均匀布置在受外源影响相同的对称位置；

(2)、获取所述至少两个相同的探测器的探测器截面Σ_det空间及能量分布；

(3)、改变系统次临界度，测量预设组不同状态的“真实”次临界度；

(4)、根据所述至少两个相同的探测器的探测器截面Σ_det空间及能量分布,测量所述预设组不同状态的“测量”次临界度；

(5)、根据所述预设组不同状态的“真实”次临界度与“测量”次临界度，得到“真实”次临界度与“测量”次临界度的对应关系；

(6)、运行中，对任一当前状态，根据所述当前状态的“测量”次临界度和所述“真实”次临界度与“测量”次临界度的对应关系，获取所述当前状态的“真实”次临界度。

可选地，上述所述的方法中，所述改变系统次临界度，测量预设组不同状态的“真实”次临界度，包括：

通过调节控制棒、调节燃料富集度、改变燃料组件数或者改变反射层厚度以改变系统次临界度，使用脉冲源法测量所述预设组不同状态的“真实”次临界度。

可选地，上述所述的方法中，根据所述至少两个相同的探测器的探测器截面Σ_det空间及能量分布,测量所述预设组不同状态的“测量”次临界度，包括：

根据所述至少两个相同的探测器探测到的探测器截面Σ_det空间及能量分布抽象一个集总探测器；

选择一次临界度值已知的参考态，记录第一已知源强和所述集总探测器测量出第一探测器计数；

对所述预设组的任一待测状态，记录第二已知源强和所述集总探测器测量出的第二探测器计数；

将所述第一已知源强、所述第一探测器计数、所述第二已知源强以及所述第二探测器计数，代入源倍增法公式中求得所述预设组中待测状态的所述“测量”次临界度。

可选地，上述所述的方法中，所述集总探测器测量出的第一探测器计数等于在所述次临界度值已知的参考态下，所述至少两个相同的探测器的探测器计数之和。

可选地，上述所述的方法中，所述集总探测器测量出的第二探测器计数等于在所述待测状态下，所述至少两个相同的探测器的探测器计数之和。

可选地，上述所述的方法中，所述预设组包括数十种不同的状态。

另一方面，本发明提供一种次临界系统次临界度的测量方法，包括如下步骤:

(a)将至少两个相同的探测器均匀布置在受外源影响相同的对称位置；