[发明专利]外观检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种能对电子元器件进行摄像以进行外观检查的外观检查装置。

背景技术

包括裸片、CSP(Chip size package：芯片尺寸封装)在内的各种电子元器件在进行完规定的检查之后出货。为了对电子元器件的缺陷等进行检测而使用外观检查装置，其具体示例例如在专利文献1、2中有记载。

专利文献1记载的外观检查装置用摄像头对收容于压纹带的收容部内的俯视观察时呈矩形或正方形的电子元器件(半导体元件)的外观进行摄像，以检测外观上有无问题。在压纹带的附近设有多个反射镜，能用一个摄像头对电子元器件的一组相对配置的侧面和正面(上表面)合计三个面进行摄像。

此外，专利文献2记载的外观检查装置一边用带式传送机构搬运电子元器件，一边用摄像头对该电子元器件的一组相对配置的侧面和正面(上表面)进行摄像以进行外观检查。

现有技术文献

专利文献1：日本专利特开2003－254726号公报

专利文献2：日本专利特开2000－337843号公报

然而，专利文献1、2记载的外观检查装置因反射镜或摄像头的配置限制而不能对剩余一组相对配置的侧面的外观检查进行摄像，从而不能对全部四个侧面进行外观检查。

发明内容

本发明鉴于上述情况而作，其目的在于提供一种能对电子元器件的全部四个侧面进行外观检查的外观检查装置。

按照上述目的的本发明的外观检查装置对包括相对的侧面A、侧面B及相对的侧面C、侧面D在内的俯视观察呈矩形或正方形的电子元器件进行外观检查，其特征是，包括：旋转体，对所述电子元器件分别进行保持的多个支承部隔着间隔呈圆状地安装于该旋转体，该旋转体间歇地旋转，使得被各所述支承部以所述侧面A、侧面B沿着旋转方向且所述侧面C、侧面D中的一方相对于另一方配置于旋转方向上游侧的状态保持的所述电子元器件依次暂时停止于第一检查位置和第二检查位置中的一方及另一方；第一摄像元件，该第一摄像元件对暂时停止于所述第一检查位置的所述电子元器件的侧面A进行摄像；光路调节元件b，该光路调节元件b改变光的前进方向，使暂时停止于所述第一检查位置的所述电子元器件的侧面B的外观落在对该电子元器件的侧面A进行摄像的所述第一摄像元件的图像中；第二摄像元件，该第二摄像元件对暂时停止于所述第二检查位置的所述电子元器件的侧面C进行摄像；以及光路调节元件d，该光路调节元件d改变光的前进方向，使暂时停止于所述第二检查位置的所述电子元器件的侧面D的外观落在对该电子元器件的侧面C进行摄像的所述第二摄像元件的图像中；所述外观检查装置对所述电子元器件的侧面A、侧面B、侧面C、侧面D进行外观检查。

在本发明的外观检查装置中，较为理想的是，还包括：光路调节元件a，该光路调节元件a使从暂时停止于所述第一检查位置的所述电子元器件的侧面A到所述第一摄像元件为止的光学路径的长度与从暂时停止于所述第一检查位置的所述电子元器件的侧面B到所述第一摄像元件为止的光学路径的长度相同；以及光路调节元件c，该光路调节元件c使从暂时停止于所述第二检查位置的所述电子元器件的侧面C到所述第二摄像元件为止的光学路径的长度与从暂时停止于所述第二检查位置的所述电子元器件的侧面D到所述第二摄像元件为止的光学路径的长度相同。

在本发明的外观检查装置中，较为理想的是，所述光路调节元件a、光路调节元件b、光路调节元件c、光路调节元件d分别具有棱镜。

在本发明的外观检查装置中，较为理想的是，设有使各所述支承部个别地进退的驱动源。

在本发明的外观检查装置中，较为理想的是，所述第一摄像元件获得将所述电子元器件的侧面A、侧面B并列排列的图像，所述第二摄像元件获得将所述电子元器件的侧面C、侧面D并列排列的图像。

在本发明的外观检查装置中，较为理想的是，所述外观检查装置包括零件供给元件，该零件供给元件从排列有多个所述电子元器件的晶片取出该电子元器件，并将其供给至所述支承部。