[发明专利]一种石墨烯薄膜的图形化方法在审
申请号: | 201410298301.7 | 申请日: | 2014-06-26 |
公开(公告)号: | CN104051239A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 潘洪亮;崔华亭;史浩飞;余崇圣;张为国;钟达 | 申请(专利权)人: | 重庆墨希科技有限公司;中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;G03F7/42 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 赵荣之 |
地址: | 401329 重庆市*** | 国省代码: | 重庆;85 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 石墨 薄膜 图形 方法 | ||
技术领域
本发明属于半导体器件领域,涉及一种图形化石墨烯薄膜的方法。
背景技术
石墨烯具有优异的综合理化性能,自问世以来备受关注;单层石墨烯的方块电阻低至5Ω/sq,全波段的透光度均高于97%,且具有极高的电子迁移率,在极限尺寸线依然保持良好的电学特征;成为半导体领域硅的重要替代者,具有广阔的运用前景。
图形化是利用石墨烯制造半导体器件必不可少的环节,由于石墨烯化学性质极为稳定,普通酸碱刻蚀图形化法效果较差,而等离子刻蚀法对环境设备要求过高,不能用于大规模生产;因此,目前图形化以及成为制约石墨烯工业推广的关键因素,有必要开发一种新型低成本高效图形化石墨烯的方法以推广石墨烯的产业化运用。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种石墨烯薄膜的图形化方法。
为达到上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种石墨烯薄膜的图形化方法,该方法在臭氧环境中用紫外线透过石墨烯掩膜板对石墨烯薄膜进行图形化。
作为本发明石墨烯薄膜图形化方法的优选,该方法具体包括以下步骤:
1)、制备石墨烯薄膜并转移到衬底上;
2)、制作石墨烯掩膜板;
3)、将石墨烯掩膜板和石墨烯薄膜放置在臭氧环境中;
4)、图形化:紫外线透过掩膜板到达石墨烯薄膜表面对其进行图形化。
作为本发明石墨烯薄膜图形化方法的进一步优选,步骤1采用CVD法在金属薄膜上生长石墨烯薄膜,所述金属薄膜为铜箔、铝箔或镍箔。
作为本发明石墨烯薄膜图形化方法的进一步优选,步骤1所述衬底为玻璃、PET薄膜、Si、SiO2或P3N4。
作为本发明石墨烯薄膜图形化方法的进一步优选,所述石墨烯掩膜板为石英玻璃掩膜板或镂空的锡箔纸掩膜板。
作为本发明石墨烯薄膜图形化方法的另一种优选,所述紫外线波长为150nm—300nm。
作为本发明石墨烯薄膜图形化方法的另一种优选,所述臭氧环境中压力为常压。
作为本发明石墨烯薄膜图形化方法的进一步优选,图形化时紫外线照射时间为10min-120min,紫外线强度为20-100mW/cm2。
本发明的有益效果在于:本发明图形化石墨烯薄膜的方法,只需在特定臭氧环境中采用一定波长的紫外线对石墨烯薄膜照射适当时间即可实现对石墨烯薄膜的图形化。此时,紫外线一方面将臭氧分解为活性氧离子,另一方面对石墨烯进行轰击后产生部分脱落碳原子;而在此条件下,氧活性离子与游离的碳原子迅速结合,生成二氧化碳气体,消除游离碳原子对刻蚀的不利影响。
从而从总体上看,石墨烯在这样的环境中被快速刻蚀;采用本发明的方法图形化石墨烯时不仅生产成本低,而且加工效率高,为石墨烯的工业化应用扫清了重要的技术性障碍。
附图说明
为了使本发明的目的、技术方案和有益效果更加清楚,本发明提供如下附图进行说明:
图1为本发明石墨烯薄膜图形化方法的工艺流程图;
图2为实施例1石墨烯薄膜图形化方法示意图,图中箭头表示紫外线方向;
图3为实施例1石墨烯薄膜图形化方法所用掩膜板结构图;
图4为实施例1石墨烯薄膜图形化后的光学照片。
具体实施方式
下面将结合附图,对本发明的优选实施例进行详细的描述。
如图1所示,本发明石墨烯薄膜的图形化方法,包括以下基本步骤:1、制备石墨烯薄膜;2、将石墨烯薄膜转移到衬底上;3、根据需要制备掩膜板;4、将带有石墨烯的衬底和掩膜板转移到臭氧环境中;5、打开紫外光线光源,对石墨烯薄膜进行图形化。
实施例1:
本实施例石墨烯薄膜的图形化方法,包括以下步骤:
1)、制备石墨烯薄膜并转移到衬底上;
首先采用化学气相沉积的方法在技术在金属薄膜上生长石墨烯薄膜,所述金属薄膜为铜箔、铝箔或镍箔;然后将所得石墨烯薄膜转移到PET薄膜衬底上。
2)、制作石墨烯掩膜板;
根据需要获得的图形制备掩膜板,本实施例的掩模板为镂空的锡箔纸掩膜板。
3)、将石墨烯掩膜板和石墨烯薄膜放置在臭氧环境中;
放置时注意将掩膜板放置在石墨烯薄膜和紫外线光源之间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆墨希科技有限公司;中国科学院重庆绿色智能技术研究院,未经重庆墨希科技有限公司;中国科学院重庆绿色智能技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410298301.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:太阳能热水器节水装置的控制电路
- 下一篇:生物质材料的加工
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造