[发明专利]具有带负电荷抗反射层的太阳电池及其制法在审
申请号: | 201410309243.3 | 申请日: | 2014-07-01 |
公开(公告)号: | CN104037245A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 叶继春;潘淼;高平奇;韩灿 | 申请(专利权)人: | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/04;H01L31/18 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 马莉华;崔佳佳 |
地址: | 315201 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 负电荷 反射层 太阳电池 及其 制法 | ||
技术领域
本发明涉及光伏领域,具体地涉及一种具有带负电荷抗反射层的太阳电池及其制法。
背景技术
太阳能由于具有取之不尽、用之不竭、无污染、使用方便等优势在各种可再生能源中占突出地位。对太阳能的利用主要以光伏发电为主,即利用太阳电池将太阳能直接转化为电能。目前,市场上销售的太阳电池大部分是以P型单晶硅或多晶硅为衬底,采用P-N结结构。由于P-N结一般通过高温磷扩散来实现,因此这种太阳电池存在以下几个缺点:1)发射区重掺杂导致禁带宽度变窄效应;2)扩散过程中在硅表面引入高浓度缺陷和复合中心,产生“死层”,引起电池光谱响应降低;3)高温过程使材料少子寿命降低。
Metal-Insulator-Semiconductor/Inversion Layer Solar Cell,中文全称为金属-绝缘体-半导体/感应反型层太阳电池,简称为MIS/IL太阳电池,这类电池的一个显著特点是避免采用高温扩散方式形成P-N结,而是依靠覆盖在半导体表面上感应层中的固定电荷(以下简称电荷),在半导体表面感应出反型层,从而形成一个同常规太阳电池P-N结功能相同的感应结,因此与常规太阳电池相比,MIS/IL太阳电池不但没有前面所提出的缺点,而且还由于结深较浅而具有良好的短波响应,同时还具有工艺简单、成本低等优点。感应层由绝缘层和抗反射层组成,一般采用氧化硅为绝缘层,氮化硅、氧化铝为抗反射层,其中氧化硅和氮化硅带正电荷,氧化铝带负电荷,感应层的电性决定了衬底使用哪种导电类型,如果感应层显正电性,则会吸引衬底的电子在半导体表面聚集,在半导体表面感应出N型层,因此衬底必须选择P型;如果感应层显负电性,则会吸引衬底的空穴在半导体表面聚集,在半导体表面感应出P型层,相应衬底要选择N型。反型层和衬底形成一个空间电荷区,光生载流子(电子和空穴)在空间电荷区的内建电场作用下分离,如果是P型衬底,空穴被下电极收集,电子先在反型层中横向运动到栅状电极下方,然后通过遂穿效应,穿过绝缘层,被上电极收集,为了克服反型层面电阻大而带来的损失,需要制备密栅结构或者增加感应层的电量。氮化硅不但含有大量正电荷(大于1012cm-2),而且还兼有良好的抗反射作用(λ=632.8nm时,折射率在1.8~2.5之间可调)和良好的钝化效果,此外采用PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)法制备氮化硅具有:沉积温度低、沉积速率快、工艺重复性和薄膜均匀性好等优点,使得低成本PECVD技术在常规太阳电池产业中得到了广泛的应用,因此目前大多数MIS/IL太阳电池都是以P型硅为衬底,用PECVD技术制备的氮化硅为抗反射层。
早在1973年H.Fischer等人发现以P型硅为衬底的常规P-N结太阳电池在光照下有明显的性能衰减问题(10th IEEE PVSC.Palo Alto,CA,USA,1973),这种现象称为光致衰减现象。1997年J.Schmidt等人证实该现象是由于硼氧对引起的(26th IEEE PVSC.New York,USA,1997)。由于N型硅材料硼含量极低,所以由硼氧对导致的光致衰减现象在以N型硅为衬底的常规P-N结太阳电池上不明显,可以忽略。近年来研究还发现,与P型晶体硅材料相比,N型硅材料具有更高的少子寿命和更高的金属污染容许度(22nd European PVSEC,Italy,2007),因此N型电池有更高的光电转换效率,例如Sunpower、Sanyo公司生产的商品化N型电池效率已经达到20%以上,全球顶尖的光伏研究机构和企业都投入巨资进行高效N型电池的研发和产业化。
结合MIS/IL电池和N型电池的优点,制备以N型硅为衬底的MIS/IL结构太阳电池,是这种太阳电池未来的发展方向。目前仅少数专利如“太阳能电池”(公开号:CN102257623A)用含负电荷的氧化铝为感应层,制备n型衬底的MIS/IL太阳电池,但这种电池有以下缺点:1)氧化铝的折射率偏低,抗反射效果不佳,降低电流密度;2)氧化铝与硅的界面态密度较高,光生载流子在界面处复合严重,降低电流密度;3)高质量氧化铝一般采用ALD技术(Atomic Layer Deposition,单原子层沉积)生长,该设备昂贵,增加电池制作成本。倘若能用低成本技术(例如:PECVD)制备带负电荷的感应层,并且电荷量大于1012cm-2量级,这样将进一步降低电池生产成本,必将成为光伏领域的一个重大技术突破。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的