[发明专利]进料自动调节模块及其方法、装置、散料异物检测机构

说明书

技术领域

本发明涉及到异物检测技术领域，特别是涉及到粒状散料检测领域。

背景技术

X射线散料异物检测机工作原理：利用X光对不同物质的穿透特性不同，检测出混在散料中密度较大的异物，如金属、玻璃、石子等，再通过剔除装置将其剔除。如图1所示，现有X射线散料异物检测机包括：进料装置，主机与剔除装置，其各自的功能是：

进料装置：通过振动器，使物料均匀铺在传输带上；

主机：采集并显示物料图像，检测异物，并驱动剔除装置动作；

剔除装置：驱动相应机构(翻板或喷阀)，剔除异物，会带出少量良品。

在X射线散料异物检测这一领域，目前剔除装置有单通道与多通道两种。多通道仅剔除异物所在的物料区域，因此带出小(剔除次品时带出的良品少)，更具优势。

多通道剔除装置要求：物料在传输带上平稳运行。当主机检测出某个通道有异物，即时驱动相应通道的剔除装置(喷阀或翻板)，在一定的延时后动作，将异物准确剔除。如果在此期间，物料运动轨迹发生偏转，从一个通道移到相邻甚至更远的通道，则紧接着的剔除动作只能误剔除良品。当然，一般的物料不会发生或者说极少发生上述情况。但对于粒状物料(圆球形或者椭球形之类的形状)，如黑豆，在传输带上发生偏转现象的概率就较大，从而导致剔除不准。

要解决这个问题，可以从剔除方式上想办法，比如每次发现异物，多启动几组通道的喷阀(发现异物时异物所在的喷阀及其相邻喷阀)。但这会增大带出比，且不能保证异物百分百剔除。

发明内容

本发明的解决方案是：设法让粒状物料均匀铺满传输带。由于物料已铺满，物料自由活动的空间大大受限，从一个通道偏转到另外通道的可能性大大降低，因此保证了异物剔除的精准性，而要让粒状物料均匀铺满传输带，就要保证稳定的进料量。但是在实际检测中，前端供料有时可能不足或中断，因而无法做到进料稳定。由此，本发明提供一种进料自动调节模块及其进料自动调节装置方法、应用该进料自动调节模块的进料自动调节装置、具有进料自动调节装置的散料异物检测机构。

本发明是这样实现的，一种进料自动调节装置，其用于自动调节散料异物检测机构的进料，该进料自动调节装置包括振动器、传输带、料斗、至少一个第一传感器、射源、第二传感器、处理器；通过该振动器的振动使物料均匀铺在该传输带上；该料斗用于承载物料，该料斗的出料口位于该传输带上方；该至少一个第一传感器用于检测该料斗内物料的料位，该至少一个第一传感器安装在该料斗的内侧壁上，当第一传感器的数量为多个时，所有第一传感器位于同一水平面上；该射源用于发出射线至该传输带上的物料，且射线能达到该传输带的相对两侧上；该第二传感器用于采集透过该传输带且穿过物料的射线，该第二传感器位于该传输带的下方，且能从该传输带的一侧采集射线；该处理器用于根据该第二传感器采集到的射线形成相对应的目标图像，并在判断该第一传感器得到的料位不小于第一预定料位值时，开启该振动器，并启动数据分析线程：计算目标图像的占空比R，若占空比R小于第一预定占空比阀值，则控制该振动器增加振动量，若占空比R大于第二预定占空比阀值，则控制该振动器减小振动量，否则控制该振动器保持当前振动量不变，该第二预定占空比阀值大于该第一预定占空比阀值。

作为上述方案的进一步改进，该进料自动调节装置还包括用于检测该料斗内物料的料位的至少一个第三传感器，该至少一个第三传感器安装在该料斗的内侧壁上且位于该第一传感器的上方，当第三传感器的数量为多个时，所有第三传感器位于同一水平面上，该处理器还用于在判断该第三传感器得到的料位不小于第二预定料位值时，开启该振动器，并启动数据分析线程，该第二预定料位值大于该第一预定料位值。

作为上述方案的进一步改进，该振动器设置在该料斗下方或者设置在该料斗上。

本发明还提供一种散料异物检测机构，其包括进料自动调节装置、剔除装置，其中：该进料自动调节装置为上述任意一项进料自动调节装置，该剔除装置安装在该传输带的一端用于剔除该物料中的异物，该处理器还用于根据该第二传感器采集到的射线特性，发出信号使得该剔除装置动作。

作为上述方案的进一步改进，该剔除装置为喷阀或翻板。

作为上述方案的进一步改进，该进料自动调节装置还包括用于检测该料斗内物料的料位的至少一个第三传感器，该至少一个第三传感器安装在该料斗的内侧壁上且位于该第一传感器的上方，当第三传感器的数量为多个时，所有第三传感器位于同一水平面上，该处理器还用于在判断该第三传感器得到的料位不小于第二预定料位值时，开启该振动器，并启动数据分析线程，该第二预定料位值大于该第一预定料位值。