[发明专利]一种定位优先级约束下零件装配成功的方法及装置有效
申请号: | 201410313117.5 | 申请日: | 2014-07-02 |
公开(公告)号: | CN104070355B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 丁晓宇;刘检华;蒋科;宁汝新;刘少丽;郭崇颖;史建成;刘海博 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | B23P21/00 | 分类号: | B23P21/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人: | 许静,黄灿 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定位 优先级 约束 零件 装配 成功 方法 装置 | ||
1.一种定位优先级约束下零件装配成功的方法,其特征在于,包括:
获取产品数字化样机的装配信息;
根据所述装配信息,获取零件内和零件间装配特征之间的定位关系;
根据所述定位关系,获取装配特征在配合前相对于装配名义位置的变动参数;
根据所述装配特征相对于装配名义位置的变动参数,获取间隙配合的约束条件;
根据所述约束条件,获取零件装配成功率;
将所述零件装配成功率与预设值进行比较,得出一比较结果;
当所述比较结果表明所述装配成功率小于所述预设值时,提示调整零件的装配公差;
根据调整后的所述装配公差再次获取零件装配成功率,直到所述零件装配成功率大于或等于预设值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述装配信息,获取零件内和零件间装配特征之间的定位关系的步骤包括:
根据所述装配信息,获取已定位零件上的全部装配目标特征和被定位零件上的全部装配基准特征;
根据所述全部装配目标特征和全部装配基准特征,建立零件间装配目标特征与装配基准特征之间的定位关系,并基于定位的先后顺序确定定位关系的优先级;
根据所述定位关系的优先级,建立零件内装配目标特征相互之间以及装配基准特征相互之间的定位关系。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述定位关系,获取装配特征在配合前相对于装配名义位置的变动参数,具体包括:
获取装配特征的位置公差信息、方向公差信息以及尺寸公差信息;
根据所述位置公差信息和方向公差信息,分别获取装配基准特征相互之间与装配目标特征相互之间的相对变动参数;
根据所述尺寸公差信息,获取装配基准特征与装配目标特征之间的配合变动参数;
根据所述定位关系的优先级,获取装配特征之间的约束方向,限定所述相对变动参数和配合变动参数,从而得到装配特征在配合前相对于装配名义位置的变动参数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述装配特征相对于装配名义位置的变动参数,得出间隙配合的约束条件的步骤包括:
获取产品数字化样机的模型信息;
根据所述模型信息中的几何信息,确定零件间间隙配合的配合类型;
获取装配目标特征和装配基准特征在配合时接触位置的名义坐标;
根据所述接触位置的名义坐标,通过确保所有的接触位置之间发生接触或存在间隙,获取装配特征变动之间的间隙配合的约束条件。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述配合类型包括:平行平面配合、圆柱面配合、圆锥面配合以及球面配合。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述约束条件,获取零件装配成功率的步骤包括:
获取装配特征在配合前相对于装配名义位置的实际变动大小;
判断所述实际变动大小是否满足所述约束条件,并得出一判断结果;
根据所述判断结果,获取每对装配特征配合成功的次数和配合总次数;
根据所述每对装配特征配合成功的次数和配合总次数,获取每对装配特征之间的装配成功率;
根据每对装配特征之间的装配成功率,获取零件的装配成功率。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述当所述比较结果表明所述装配成功率小于所述预设值时,提示调整所述零件的装配公差具体包括:
当所述比较结果表明所述装配成功率小于所述预设值时,将零件装配中的每对装配特征的装配成功率进行排序,获取装配成功率最小的一对装配特征,并提示调整所述装配成功率最小的一对装配特征的装配公差。
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