[发明专利]半导体元件靠边定位机构及其测试装置

权利要求书

1.一种半导体元件靠边定位机构，该半导体元件为一晶粒，包括有：

一基座，包括一底座及二垫块，该底座上设置有一滑轨及一动力源；

一吸附载座，包括一载盘及一固设于该载盘的陶瓷吸座，该陶瓷吸座为一方形结构，其侧边与该滑轨呈45度角，该陶瓷吸座连接至少一连接管，该载盘滑设于该滑轨上；以及

一校正片，具有至少一开槽，固设于该二垫块，该开槽呈方形，其侧边与该滑轨呈45度角；

其中，该吸附载座能通过该动力源在该滑轨上滑移至一特定处时，将一置放于该陶瓷吸座上的半导体元件定位至该开槽的一对角处。

2.如权利要求1所述的半导体元件靠边定位机构，其中，该动力源为一与一空气供应装置连接的汽缸。

3.如权利要求1所述的半导体元件靠边定位机构，其中，该校正片的多个开槽为阵列排列。

4.如权利要求1所述的半导体元件靠边定位机构，其中，该连接管连接一真空源或一空气供应装置。

5.一种半导体元件靠边定位测试装置，包括有：

一进料模块；

一半导体元件靠边定位机构，包括有一基座、一吸附载座及一校正片，该基座包括一底座及二垫块，该底座上设置有一滑轨及一动力源；该吸附载座包括一载盘及一固设于该载盘的陶瓷吸座，该陶瓷吸座连接一连接管，该载盘滑设于该滑轨上；该校正片具有至少一开槽，固设于该二垫块；其中，该吸附载座能通过该动力源在该滑轨上滑移至一特定处时，将一置放于该陶瓷吸座上的半导体元件定位至该开槽的一对角处；

一测试单元，用以检测半导体元件；

一出料模块；以及

二取放单元，分别设置于该进料模块与该半导体元件靠边定位机构组之间、及该半导体元件靠边定位机构与该出料模块组之间。

6.如权利要求5所述的半导体元件靠边定位测试装置，其中，该进料模块为转塔、拖盘、套管或卷带。

7.如权利要求5所述的半导体元件靠边定位测试装置，其中，该出料模块为拖盘、套管、卷带或半导体元件交换器。

8.如权利要求5所述的半导体元件靠边定位测试装置，其中，该动力源为一与一空气供应装置连接的汽缸。

9.如权利要求5所述的半导体元件靠边定位测试装置，其中，该校正片的多个开槽为阵列排列。

10.如权利要求5所述的半导体元件靠边定位测试装置，其中，该连接管连接一真空源或一空气供应装置。

11.如权利要求5所述的半导体元件靠边定位测试装置，其中，该陶瓷吸座为一方形结构，其侧边与该滑轨呈45度角。

12.如权利要求11所述的半导体元件靠边定位测试装置，其中，该校正片的该开槽呈方形，其侧边与该滑轨呈45度角。