[发明专利]用于监视纱线质量的方法以及用于执行该方法的检测器

权利要求书

1.一种用于由电子纱线清理器借助于光学检测器（5）来监视纱线（2）的质量的方法，所述光学检测器（5）与辐射源（3）相对布置，其中被监视的纱线（2）在辐射源（3）和光学检测器（5）之间通过，其中光学检测器（5）包括传感器（4），传感器（4）具有通过CMOS技术制成的两行个体光学元件，个体光学元件是矩形的，其中光学元件中的每一个包括光电二极管和放大器，所述放大器的输出信号具有可控放大率，其中一行中的个体光学元件的出口由一个或多个模拟多路复用器（410）连接至至少一个第一模数转换器（6），模拟多路复用器（410）是传感器（4）的一部分，第一模数转换器（6）是光学检测器（5）的一部分，并且另一行中的个体光学元件的出口连接至作为光学检测器（5）的一部分的第二模数转换器（61，……，6n）的入口，其中第二模数转换器（61，……，6n）的出口与包括可编程设备（7）的光学检测器（5）的入口互连，所述方法包括：

在每个光学元件的光电二极管上生成输出模拟信号（V_in），所述输出模拟信号（V_in）与相应光学元件的照射或遮蔽程度成比例；

由放大器把来自每个光学元件的光电二极管的所述模拟信号放大到每个光学元件的输出处的值（V_out）；

由具有定义的操作范围的模数转换器转换每个光学元件的模拟信号；

通过以下方式来调节个体光学元件对到来的光线数量的敏感度：控制对应的放大器以便把个体光学元件的输出信号的值维持在所连接的第一或第二模数转换器（6，61，……，6n）的操作范围内，所述操作范围对应于在执行纱线参数检测时被照射的传感器光学元件和传感器的被遮蔽光学元件之间的相对差异。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：通过改变具有可调节放大率的放大器的负反馈中的可变电阻的大小来针对几组光学元件在几个预定义阶段中联合地执行个体光学元件对入射光线数量的敏感度的调节。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：通过改变具有可调节放大率的放大器的负反馈中的可变电阻的大小来针对几组光学元件在预定时间间隔内连续地联合执行个体光学元件对入射光线数量的敏感度的调节。

4.一种光学检测器（5），包括传感器（4），用于监视电子纱线清理器（1）中的纱线质量参数，所述传感器包括通过CMOS技术制成的两行个体矩形光学元件，光学元件中的每一个包括光电二极管和放大器，所述放大器的输出模拟信号具有可控放大率，其中一行中的个体光学元件的出口由一个或多个多路复用器（410）连接至至少一个第一模数转换器（6），多路复用器（410）是传感器（4）的一部分，第一模数转换器（6）是光学检测器（5）的一部分，并且另一行中的个体光学元件的出口连接至作为光学检测器（5）的一部分的第二模数转换器（61，……，6n）的入口，模数转换器的出口与包括可编程设备（7）的光学检测器（5）的入口连接，其特征在于：所述光电二极管的输出信号的放大器是在负反馈中包括可变电阻器（R₁、R₂）的放大器，可变电阻器（R₁、R₂）用于通过以下方式来调节个体光学元件对到来的光线数量的敏感度：控制对应的放大器以便把个体光学元件的输出信号的值维持在所连接的第一或第二模数转换器（6，61，……，6n）的操作范围内，所述操作范围对应于在执行纱线参数检测时传感器的被照射光学元件和传感器的被遮蔽光学元件之间的相对差异。