[发明专利]用于监视纱线质量的方法以及用于执行该方法的检测器

说明书

一种由纱线的电子清理器（1）利用光学检测器（5）监视纱线（2）的质量的方法，光学检测器（5）包括具有一行或两行个体光学元件（41，42）的传感器（4），光学元件（41，42）为矩形并且具有模拟输出，每个光学元件包括光电二极管以及其输出信号的放大器。该放大器具有可变放大率，该可变放大率的大小根据相应光学元件（41，42）对光线的所要求的敏感度而进行修改。本发明还涉及一种用于监视纱线（2）的电子清理器（1）中的纱线质量的光学检测器（5）的传感器，包括一行或两行个体光学元件（41，42），由此每个光学元件包括光电二极管以及其输出信号的放大器，放大器具有可调节放大率。

技术领域

本发明涉及一种用于由纱线电子清理器借助于光学检测器监视纱线质量的方法，该光学检测器包括具有一行或两行个体光学元件的传感器，该光学元件为矩形并且具有模拟输出，每个光学元件包括光电二极管以及其输出信号的放大器。

本发明还涉及一种用于监视纱线电子清理器中纱线质量的光学检测器的传感器，其中该传感器包括一行或两行个体光学元件，每个光学元件包括光电二极管以及其输出信号的放大器。

背景技术

CZ286113（EP1051595B1）公开了一种用于检测移动纱线的厚度和/或同质性的方法，其中纱线在辐射源和线性CCD检测器之间的辐射通量中移动，由此该CCD检测器的每个元件与其照射的状态和/或程度的评估设备相耦合。CCD检测器被用作辐射传感器，对总是在长度近似为10 µm的非常短的分段上被非连续地测量的纱线进行监视。

专利US6242755B1描述了一种用于对不确定长度的纤维纺织材料进行无接触测量的方法，其中该纺织材料被放置于至少一个辐射源的辐射范围内并且其阴影通过辐射而投影到包括彼此相邻布置的一行传感器单元的接收设备上，由此该接收设备由CCD检测器所组成。该纤维纺织材料的直径基于完全被遮蔽的传感器单元的数量以及根据对一个或两个相邻传感器单元的部分遮蔽来确定，根据部分遮蔽的数量与被完全覆盖的传感器单元的数量之比来按照比例确定部分遮蔽的数值。

迄今为止，基于线性CCD检测器或CMOS光学检测器并且意图安装在纺纱机或卷纬机上的已知纱线清理器仅利用被遮蔽的光学元件的数量的数字数值进行工作。即使专利CZ286113和US6242775公开了包括部分照射光学元件的影响的对纱线直径进行评估的方法，但是这样的检测器尚未在工业应用中得以实现，这很可能是由于已由本发明所克服的困难和缺陷。显然，如果没有伴随其他措施（诸如防止电磁干扰的措施），对来自检测器的个体光学元件的模拟信号的处理是复杂的并且不产生所期望的效果。

US6219135（EP1015873B1）描述了一种光学检测器的配置，其出于不仅获得关于纱线直径的信息而且获得关于纱线表面结构的信息的目的而将模拟和数字光学元件相结合。按推测，该设备意图仅用作实验室装置的部分。光学传感器因此包括两种类型的光学元件，这些光学元件根据不同的原理进行操作或者其信号根据不同的原理被评估，一个原理是数字的，第二个原理是数字的。这个方案的缺点特别是：使用两种不同类型的光学传感器，即数字和模拟传感器，然而，来自两种类型的传感器的信号被完全分离地发射和处理，并且以这种方式，它们被传输到超集评估电路中以供进一步处理。然而，如果该设备在纱线生产期间用作在线测量设备，则其存在很多不足。主要缺陷在于如下事实：不可以依赖于（诸如周围光线以及灰尘或其它杂质对检测器和/或辐射源的污染）改变的环境条件来对模拟光学元件的敏感度进行设置。另一个缺陷在于，来自模拟光学元件的定义纱线表面结构的信号的交流分量以相对大的直流分量进行调制，这使得模数转换器对信号所进行的处理恶化。另一个缺陷在于如下事实：模拟信号被携带至检测器自身之外进行处理，其受到从检测器附近操作的机器的其它设备引入到模拟导体中的电磁干扰的影响。显然，当在实验室中使用该光学检测器时，无干扰的环境能够实现，但是其在该设备直接在生产机器上使用的情况下则可能难以实现。