[发明专利]样品台及显微镜系统有效

专利信息
申请号: 201410340994.1 申请日: 2014-07-17
公开(公告)号: CN104183453A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 沈轶强 申请(专利权)人: 胜科纳米(苏州)有限公司
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 215123 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 样品 显微镜 系统
【权利要求书】:

1.一种样品台,适用于电子背散射衍射式的工作模式和透射式电子衍射的工作模式,其特征在于,包括:支撑架、及装配在所述支撑架上的样品槽;其中,

所述支撑架包括支撑台、及支撑杆;所述支撑杆与所述支撑台连接,所述支撑台与支撑杆成142度。

2.如权利要求1所述的样品台,其特征在于,所述样品槽包括样品架、固定在所述样品架上的固定元件、及与所述样品架连接的连接杆。

3.如权利要求2所述的样品台,其特征在于,所述固定元件包括固定样品的铜片、及与所述铜片配合使用的螺丝。

4.如权利要求1所述的样品台,其特征在于,所述支撑杆上设置有螺纹。

5.如权利要求1所述的样品台,其特征在于,所述样品槽装配在所述支撑台上。

6.如权利要求5所述的样品台,其特征在于,所述支撑台上设置有连接槽、及与所述连接槽连通的锁孔。

7.如权利要求6所述的样品台,其特征在于,所述样品槽装配在所述支撑架上时,所述连接杆穿插于所述连接槽中。

8.如权利要求7所述的样品台,其特征在于,所述连接槽的数量大于等于所述连接杆的数量。

9.一种显微镜系统,其特征在于,包括:二次电子显微镜、及固定在所述二次电子显微镜的载物台上的样品台;其中,

所述样品台包括:支撑架、及装配在所述支撑架上的样品槽;所述支撑架包括支撑台、及支撑杆;所述支撑杆的两端依次与所述支撑台及所述载物台连接,所述支撑台与支撑杆成142度,所述支撑杆与所述载物台成90度。

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