[发明专利]一种电子元件测温方法在审
| 申请号： | 201410343569.8 | 申请日： | 2014-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN104180918A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 王玉玺;高洪杰 | 申请（专利权）人： | 国网河南省电力公司南阳供电公司 |
| 主分类号： | G01K7/22 | 分类号： | G01K7/22;G05B19/042 |
| 代理公司： | 郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙) 41117 | 代理人： | 季发军 |
| 地址： | 473000 *** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 测温 方法 | ||
1.一种电子元件测温方法，其特征在于：它包括如下步骤：
依托单片机空闲I/O口建立温度检测电路，所述温度检测电路包括三个单片机I/O端口、一个精密电阻、一个热敏电阻、一个普通电阻及一个电容；
将检测电路中电阻所连三个端口均设置为低电平输出，启动延时程序；
将精密电阻所连端口设置为高电平输出，其余两电阻所连端口设置为输入状态，启动计数程序；
将电阻所连三个端口均设置为低电平输出，启动延时程序；
将热敏电阻所连端口设置为高电平输出，其余两电阻所连端口设置为输入状态，启动计数程序；
启动内部计算程序得出光敏电阻值，进而查知温度值。
2.如权利要求1所述的一种电子元件测温方法，其特征在于：所述三个电阻的一端分别接单片机端口，另一端共接于电容一端，电容另一端接地。
3.如权利要求2所述的一种电子元件测温方法，其特征在于：所述单片机可选用51系列，所述I/O端口可选用P1.0、P1.1、P1.2三个端口。
4.如权利要求2所述的一种电子元件测温方法，其特征在于：所述延时程序的延时功能依托于单片机的定时器，定时时间为0.1秒。
5.如权利要求2所述的一种电子元件测温方法，其特征在于：所述计数程序流程为：首先内部计数器清零并开始计数，同时检测普通电阻端口状态是否为高电平，如果不是，返回继续计数并检测，如果是，表示电容上的电压达到单片机高电平输入的门嵌电压，保存当前状态，并读取计数器值,并将计数器值存入单片机的数据寄存器。
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