[发明专利]一种电子元件测温方法

说明书

技术领域

本发明涉及测温技术领域，尤其涉及一种电子元件测温方法。 

背景技术

温度作为电子产品使用过程中的一个重要参数，一直为人们所重视，与之相应的是越来越多的温度检测及温度控制装置的出现。 

申请号为03257405.3的实用新型专利公开一种电子元件的温控装置,包含一加热元件、一温度传感器及一控制电路。该加热元件叠放在该电子元件的表面,可提高该电子元件的温度。该温度传感器用于检测该电子元件的温度。该控制电路依据该温度传感器的检测温度而控制该加热元件是否继续产生热能。本发明的最终目的是使该电子元件的温度维持在额定工作温度的范围内。 

申请号为200610033876.1发明专利公开了一种温度感测装置,该温度感测装置之一表面上装设有一屏幕,另一表面上则设有一供感测温度之感测部,该温度感测装置之内部电路设有一微处理器及一温度传感器,其中该微处理器与该温度传感器电气连接,并与该屏幕电气相连接,而该温度传感器与该感测部相连接,将该感测部贴近待测物之表面上时,该待测物上之热量将经由该感测部传导至该温度传感器,令该温度传感器感测该热量,并将对应该热量之数值信号传送至该微处理器,使该微处理器将此数值信号转换成对应之热量数值,通过该屏幕将此热量数值显示出来,如此,利用本发明检测各种发热电子元件上之热量时,可达成简便、快速、节省时间与成本之功效。 

然而，这些装置往往需要用到比较复杂的检测与控制电路，例如较为精密的温度传感器件，不但结构复杂，而且成本较高。在当前追求高度集成化与性价比至上的市场需求中，其呈现出的问题也越来越突出，这就对电子产品的普及和推广产生了很大的负面影响。 

发明内容

本发明的目的是提供一种电子元件测温方法，它实现方便，性价比较高，利用电子产品中常见的单片机模块，仅通过简单地电路改装与空闲端子的有效使用，即可实现测温功能。 

为实现上述目的，本发明所采取的技术方案是：一种电子元件测温方法,包括如下步骤： 

1)      依托单片机空闲I/O口建立温度检测电路，所述温度检测电路包括三个单片机I/O端口、一个精密电阻、一个热敏电阻、一个普通电阻及一个电容；

2)      将电阻所连三个端口均设置为低电平输出，启动延时程序；

3)      将精密电阻所连端口设置为高电平输出，其余两电阻所连端口设置为输入状态，启动计数程序；

4)      将电阻所连三个端口均设置为低电平输出，启动延时程序；

5)      将热敏电阻所连端口设置为高电平输出，其余两电阻所连端口设置为输入状态，启动计数程序；

6)      启动内部计算程序得出光敏电阻值，进而查知温度值。

所述三个电阻的一端分别接单片机端口，另一端共接于电容一端，电容另一端接地。 

所述单片机可选用51系列，所述I/O端口可选用P1.0、P1.1、P1.2三个端口。 

所述延时程序的延时功能依托于单片机的定时器，定时时间为0.1秒。 

所述计数程序流程为：首先内部计数器清零并开始计数，同时检测普通电阻端口状态是否为高电平，如果不是，返回继续计数并检测，如果是，表示电容上的电压达到单片机高电平输入的门嵌电压，保存当前状态，并读取计数器值,并将计数器值存入单片机的数据寄存器。 

本发明中所应用的单片机是依托于电子产品本身的单片机控制模块而设计，目前最为常见与廉价的是51系列单片机，这是对目前所有兼容Intel 8031指令系统的单片机的统称。该系列单片机的始祖是Intel的8031单片机，后来随着Flash rom技术的发展，8031单片机取得了长足的进展，成为目前应用最广泛的8位单片机之一，其代表型号是ATMEL公司的AT89系列，它广泛应用于工业测控系统之中。该系列单片机具有256bytes的数据存储器、32条I/O口线、CPU由运算和控制逻辑组成，同时还包括中断系统和部分外部特殊功能寄存器、RAM用以存放可以读写的数据，如运算的中间结果、最终结果以及欲显示的数据；ROM用以存放程序、一些原始数据和表格；四个8位并行I/O口，既可用作输入，也可用作输出；   两个定时/记数器，既可以工作在定时模式，也可以工作在记数模式；五个中断源的中断控制系统，在本发明中，仅需要用到3个空闲I/O口以及简单的中断、读取及数据寄存功能。