[发明专利]等离子体刻蚀装置

说明书

技术领域

本发明涉及半导体加工设备，特别涉及一种等离子体刻蚀装置。

背景技术

随着集成电路集成度的提高和元件线宽的减小，等离子体刻蚀(Plasma Etching)工艺得到了极为广泛的应用。等离子体刻蚀工艺是通过在等离子体刻蚀装置的反应腔室内配置电极，以蚀刻气体作为反应气体提供给反应腔室内，利用在电极上施加射频而在反应腔室内形成反应气体的等离子体，通过由该等离子体生成的原子团、离子等完成蚀刻的干法刻蚀工艺。

近年来，利用等离子体刻蚀工艺形成高深宽比结构，如TSV硅通孔技术，正越来越受到广泛的重视和研究。高深宽比结构的形成，典型地是利用图形刻蚀制程在晶圆表面形成图形化的光刻胶作为掩膜层，然后以合适的反应气体产生等离子体并将其用到未被掩膜层保护的蚀刻区域，从而刻蚀出深沟槽。通常来说，在刻蚀出深沟槽之后，还可能会执行不需要掩膜层的无图形刻蚀(blanket etching)制程以对所形成的深沟槽进行减薄最终形成所希望的深度的高深宽比结构。然而，在无图形刻蚀制程中，由于晶圆的边缘区域与中间区域刻蚀速率不同，边缘区域的刻蚀速率偏快，这将造成整个晶圆范围内各高深宽比结构刻蚀深度、顶部特征尺寸和底部特征尺寸的不一致，进而影响产品良率。而若在不同腔室中分别进行高深宽比结构的图形刻蚀和无图形刻蚀，又会造成工艺效率的降低和成本的增加。

为解决上述问题，现有技术中在晶圆周围设置一遮蔽环，以减小边缘区域等离子体的轰击，从而改善无图形刻蚀时的刻蚀均匀性。如图1所示，等离子体刻蚀装置包括反应腔室10，其中引入有刻蚀气体作为反应气体；反应腔室10的顶部设置有反应气体喷淋头11，其中包含上电极15；反应腔室10底部设置有用于夹持待处理基片W的静电夹盘12，其中设置有与上电极15相对的下电极16。射频源RF施加在下电极16上，在上电极15和下电极16之间形成射频电场，对刻蚀气体电离生成等离子体。聚焦环13设于基片W的周围，其顶面与基片W的顶面平齐，用于收敛基片W表面的等离子体。遮蔽环14环绕聚焦环外周设置，用于掩蔽或遮蔽基片周缘处的一部分等离子体以使基片边缘部分等离子体的密度减小，从而降低晶圆30边缘处的刻蚀速率。

然而，采用遮蔽环虽然能够提高无图形刻蚀制程中整个基片范围内的刻蚀均匀性，但遮蔽环也同时影响了边缘区域的等离子体密度，又会导致图形刻蚀制程中深沟槽剖面形貌控制不佳。

因此，需要提出一种等离子体刻蚀装置能够同时改善高深宽比结构形貌控制以及无图形刻蚀的均匀性。

发明内容

本发明的主要目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种能够原位执行图形刻蚀和无图形刻蚀制程且不影响各刻蚀制程的刻蚀均一性和刻蚀形貌的等离子体刻蚀装置。

为达成上述目的，本发明提供一种等离子体刻蚀装置，用于原位执行深沟槽图形刻蚀制程和无图形刻蚀制程，其包括反应腔室，其具有用于夹持待处理基片的静电夹盘以及可移动的环状遮蔽部件，环状遮蔽部件设于所述基片外周侧并位于所述基片的上方；驱动单元，用于驱动所述环状遮蔽部件在垂直方向上移动；以及控制单元，与所述驱动单元相连，其在待进行所述深沟槽图形刻蚀制程时控制所述驱动单元驱动所述环状遮蔽部件定位于远离所述基片的第一位置，在待进行所述无图形刻蚀制程时控制所述驱动单元驱动所述环状遮蔽部件定位于邻近所述基片的第二位置。

优选的，所述反应腔室还包括环绕所述基片的聚焦环，所述聚焦环位于环状遮蔽部件下方。

优选的，所述反应腔室还包括环绕所述聚焦环的覆盖环，所述覆盖环位于所述环状遮蔽部件下方且其上表面与所述聚焦环的上表面平齐。

优选的，所述环状遮蔽部件为遮蔽环或气体导向环。

优选的，所述遮蔽环的内周面为自上向下径向向外延伸的锥形面。

优选的，所述气体导向环的截面形状为矩形。

优选的，所述环状遮蔽部件定位于所述第二位置时，其下表面与所述基片上表面的距离为1～2mm。

优选的，所述遮蔽环定位于所述第一位置时，其下表面与所述基片上表面的距离为15～30mm；所述气体导向环定位于所述第一位置时，其下表面与所述基片上表面的距离为30～60mm。

优选的，所述环状遮蔽部件在水平方向上自所述基片的边缘径向向内延伸-5mm～5mm。

优选的，所述聚焦环和所述覆盖环的上表面突出于所述基片的上表面1～2mm。

优选的，所述环状遮蔽部件定位于所述第二位置时，其下表面贴合于所述聚焦环和所述覆盖环的上表面。