[发明专利]TFT背板的制作方法及TFT背板结构在审

专利信息
申请号: 201410351330.5 申请日: 2014-07-22
公开(公告)号: CN104091785A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 李文辉;王宜凡;苏智昱;吕晓文 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: tft 背板 制作方法 结构
【权利要求书】:

1.一种TFT背板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1、提供一基板(1),在该基板(1)上成膜第一金属层,并图案化该第一金属层,形成位于基板(1)一侧的栅极(2)与位于基板(1)另一侧的第一金属电极M1;

步骤2、在所述栅极(2)、第一金属电极M1与基板(1)上连续成膜,依次形成栅极绝缘层(3)、半导体层、与刻蚀阻挡层,并通过一道光刻制程图案化所述半导体层与刻蚀阻挡层,形成岛状的半导体层(4)与岛状的刻蚀阻挡层(5);

步骤3、通过一道光刻制程图案化所述岛状的刻蚀阻挡层(5)与栅极绝缘层(3),形成数个刻蚀阻挡层过孔(51)与栅极绝缘层过孔(31),分别露出部分半导体层(4)、与栅极(2);

步骤4、在所述岛状的刻蚀阻挡层(5)与栅极绝缘层(3)上成膜第二金属层,并图案化该第二金属层,形成位于所述基板(1)一侧的源/漏极(6)与位于基板(1)另一侧的第二金属电极M2;所述源/漏极(6)填充数个刻蚀阻挡层过孔(51)与半导体层(4)连接;所述源/漏极(6)填充栅极绝缘层过孔(31)与栅极(2)连接;位于所述基板(1)另一侧的部分栅极绝缘层(3)夹在第二金属电极M2与第一金属电极M1之间;

步骤5、在源/漏极(6)与第二金属电极M2上形成钝化保护层(7),并图案化该钝化保护层(7);

步骤6、在所述钝化保护层(7)上形成平坦层(8),并图案化该平坦层(8);

步骤7、在所述平坦层(8)上形成像素电极层(9),并图案化该像素电极层(9);所述像素电极(9)与源/漏极(6)连接;

步骤8、在所述像素电极层(9)与平坦层(8)上形成像素定义层(10),并图案化该像素定义层(10)。

2.如权利要求1所述的TFT背板的制作方法,其特征在于,还包括步骤9、在所述像素定义层(10)上形成隔离柱(11)。

3.如权利要求1所述的TFT背板的制作方法,其特征在于,所述第一金属电极M1、第二金属电极M2、及夹在第一、第二金属电极M1、M2之间的部分栅极绝缘层(3)形成存储电容C。

4.如权利要求1所述的TFT背板的制作方法,其特征在于,所述半导体层(4)为氧化物半导体层或非氧化物半导体层。

5.如权利要求4所述的TFT背板的制作方法,其特征在于,所述氧化物半导体层为IGZO半导体层。

6.如权利要求1所述的TFT背板的制作方法,其特征在于,所述钝化保护层(7)的材料为无机材料,所述平坦层(8)的材料为有机材料,所述像素电极层(9)的材料为ITO或IZO,所述像素定义层(10)的材料为有机材料。

7.一种TFT背板结构,其特征在于,包括基板(1)、位于基板(1)一侧上的栅极(2)、位于基板(1)另一侧上的第一金属电极M1、位于栅极(2)、第一金属电极M1与基板(1)上的栅极绝缘层(3)、位于栅极绝缘层(3)上的岛状半岛体层(4)、位于半导体层(4)上的岛状刻蚀阻挡层(5)、位于刻蚀阻挡层(5)上的源/漏极(6)、位于第一金属电极M1上方的栅极绝缘层(3)上的第二金属电极M2、位于源/漏极(6)与第二金属电极M2上的钝化保护层(7)、位于钝化保护层(7)上的平坦层(8)、位于平坦层(8)上的像素电极层(9)、位于像素电极层(9)与平坦层(8)上的像素定义层(10),所述栅极绝缘层(3)具有栅极绝缘层过孔(31),所述刻蚀阻挡层(5)具有数个刻蚀阻挡层过孔(51),所述源/漏极(6)填充数个刻蚀阻挡层过孔(51)与半导体层(4)连接,所述源/漏极(6)填充栅极绝缘层过孔(31)与栅极(2)连接,所述第一金属电极M1、第二金属电极M2、及夹在第一、第二金属电极M1、M2之间的部分栅极绝缘层(3)形成存储电容C,所述像素电极(9)与源/漏极(6)连接。

8.如权利要求7所述的TFT背板结构,其特征在于,还包括位于像素定义层(10)上的隔离柱(11)。

9.如权利要求7所述的TFT背板结构,其特征在于,所述半导体层(4)为氧化物半导体层或非氧化物半导体层,所述钝化保护层(7)的材料为无机材料,所述平坦层(8)的材料为有机材料,所述像素电极层(9)的材料为ITO或IZO,所述像素定义层(10)的材料为有机材料。

10.如权利要求9所述的TFT背板结构,其特征在于,所述氧化物半导体层为IGZO半导体层。

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