[发明专利]TFT背板的制作方法及TFT背板结构在审

专利信息
申请号: 201410351330.5 申请日: 2014-07-22
公开(公告)号: CN104091785A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 李文辉;王宜凡;苏智昱;吕晓文 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: tft 背板 制作方法 结构
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种TFT背板的制作方法及TFT背板结构。

背景技术

平面显示装置具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。现有的平面显示装置主要包括液晶显示装置(Liquid Crystal Display,LCD)及有机电致发光显示装置(Organic Light Emitting Display,OLED)。

OLED由于同时具备自发光,不需背光源、对比度高、厚度薄、视角广、反应速度快、可用于挠曲性面板、使用温度范围广、构造及制程较简单等优异特性,被认为是下一代平面显示装置的新兴应用技术。

薄膜晶体管(TFT)是平面显示装置的重要组成部分。由于TFT可形成在玻璃基板或塑料基板上,所以它们通常作为开光装置和驱动装置用在诸如LCD、OLED、电泳显示装置(EPD)上。

氧化物半导体TFT技术是当前的热门技术。由于氧化物半导体具有较高的电子迁移率,而且相比低温多晶硅(LTPS),氧化物半导体制程简单,与非晶硅制程相容性较高,可以应用于LCD、OLED、柔性显示(Flexible)等领域,且与高世代生产线兼容,可应用于大中小尺寸显示,具有良好的应用发展前景。

现有的较为成熟的氧化物半导体TFT背板的结构是具有刻蚀阻挡层的结构。如图1至图10所示,现有的氧化物半导体TFT背板的制作方法,包括如下步骤:

步骤1、提供一基板100,在该基板100上成膜第一金属层,通过一道光刻制程图案化该第一金属层,形成位于基板100一侧的栅极200与位于基板100另一侧的第一金属电极M1;

步骤2、在所述栅极200、第一金属电极M1与基板100上成膜栅极绝缘层300,通过一道光刻制程图案化该栅极绝缘层300,形成栅极绝缘层过孔310,以露出部分栅极200;

步骤3、在所述栅极绝缘层300上成膜并通过一道光刻制程图案化,形成岛状的氧化物半导体层400;

步骤4、在所述氧化物半导体层400与栅极绝缘层300上成膜刻蚀阻挡层500,并通过一道光刻制程图案化该刻蚀阻挡层500,形成数个刻蚀阻挡层过孔510,以露出部分氧化物半导体层400;

步骤5、在所述刻蚀阻挡层500上成膜第二金属层,通过一道光刻制程图案化该第二金属层,形成位于所述基板100一侧的源/漏极600与位于基板100另一侧的第二金属电极M2,所述源/漏极600填充数个刻蚀阻挡层过孔510与氧化物半导体层400连接,所述源/漏极600填充栅极绝缘层过孔310与栅极200连接;

所述第一金属电极M1、第二金属电极M2、及夹在第一、第二金属电极M1、M2之间的部分栅极绝缘层300与部分刻蚀阻挡层500形成存储电容C;

步骤6、在源/漏极600与第二金属电极M2上形成钝化保护层700,并通过一道光刻制程使其图案化;

步骤7、在所述钝化保护层700上形成平坦层800,并通过一道光刻制程使其图案化;

步骤8、在所述平坦层800上形成像素电极层900,并通过一道光刻制程使其图案化;

步骤9、在所述像素电极层900与平坦层800上形成像素定义层1000,并通过一道光刻制程使其图案化;

步骤10、在所述像素定义层1000上形成隔离柱1100。

该现有的氧化物半导体TFT背板的制作方法存在一定的问题,主要表现在三个方面:一、氧化物半导体TFT背板的制作共需要十道光刻制程,其中刻蚀阻挡层500的制作需要一道完整的光刻制程(包括成膜、黄光、蚀刻、剥离等制程工序),造成工序流程较长,生产效率较低,生产成本增加,而工序越多,累积的良率问题也越凸显;二、栅极绝缘层300、氧化物半导体层400与刻蚀阻挡层500非连续成膜,氧化物半导体层400与其它两层的界面容易受到蚀刻液、剥离液的污染,存在造成TFT性能下降的风险;三、存储电容C由第一金属电极M1、第二金属电极M2、夹在第一、第二金属电极M1、M2之间的部分栅极绝缘层300与部分刻蚀阻挡层500形成,由于多了刻蚀阻挡层500的厚度,造成存储电容C需要较大的面积,引起开口率下降。

因此,需要对该方法进行改进,以消除其存在的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种TFT背板的制作方法,能够减少光刻制程,缩短工序流程,提高生产效率,降低生产成本,提升良率;避免半导体层与栅极绝缘层、刻蚀阻挡层的界面受到污染,保证TFT的性能;并使得存储电容面积减小,提高开口率。

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