[发明专利]一种芯片及其进入测试态的方法

权利要求书

1.一种芯片，包括复位信号压焊点、时钟信号压焊点，其特征在于，还包括测试态选择电路，其中，

所述复位信号压焊点输入的信号接入所述测试态选择电路的时钟输入端，所述时钟信号压焊点输入的信号接入所述测试态选择电路的数据输入端，

所述测试态选择电路，用于以所述复位信号压焊点输入的信号作为时钟，按照预定的时序对所述时钟信号压焊点输入的信号进行记录，得到测试控制信号，将所得到的测试控制信号与预存的验证信号进行比较，如相等，则触发所述芯片进入测试态；所述芯片不包括测试压焊点。

2.如权利要求1所述的芯片，其特征在于：所述测试态选择电路包括：

比较器；

测试控制电路，包括一个寄存器或多个寄存器，当包括多个寄存器，多个寄存器依次相连，所述复位信号压焊点输入的信号接入每个寄存器的时钟输入端，所述时钟信号压焊点输入的信号接入第一个寄存器的数据输入端，所述寄存器根据所述时钟输入端的信号，将按照预定的时序输出的值作为所述测试控制信号，输出给所述比较器；

所述比较器，用于将所述测试控制信号与预存的验证信号进行比较，如相等，则输出触发所述芯片进入测试态的信号。

3.如权利要求2所述的芯片，其特征在于：

所述寄存器为D触发器。

4.如权利要求2所述的芯片，其特征在于：

所述测试控制电路由8个寄存器组成；所述测试控制信号为8位，所述8个寄存器中每一个寄存器输出的值分别作为所述测试控制信号中的1位。

5.如权利要求1-4任一项所述的芯片，其特征在于：

所述芯片不包括测试压焊点。

6.一种芯片进入测试态的方法，应用于如权利要求1-5任一项所述的芯片，包括：

以复位信号作为时钟，按照预定的时序对时钟信号进行记录得到测试控制信号，

将所述测试控制信号与预存的验证信号进行比较，如相等，则进入测试态。