[发明专利]能够对多个存储器进行独立控制的测试装置有效

专利信息
申请号: 201410353049.5 申请日: 2014-07-23
公开(公告)号: CN104425041B 公开(公告)日: 2017-12-26
发明(设计)人: 李义元 申请(专利权)人: 韩商联测股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司11002 代理人: 谢顺星,张晶
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 能够 存储器 进行 独立 控制 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种能够对多个存储器进行独立控制的测试装置,其特征在于,包括:

主终端(100),其接收用于测试存储器(10)的用户控制信号;

通信接口部(300),其进行连接,以便主终端(100)、嵌入式处理器(500)、数据引擎部(600)之间能够收发数据;

嵌入式处理器(500),其收发用于测试数据引擎部(600)、序列控制部(700)及存储器(10)的各种数据;

数据引擎部(600),其实时生成用于写入存储器(10)的模式数据和用于控制SATA/SAS/PCIe接口部(800)的指令数据,从存储器(10)读取写入的结果模式数据,与生成的模式数据进行比较;

序列控制部(700),其根据从所述嵌入式处理器(500)接收的指令数据,独立控制多个SATA/SAS/PCIe接口部(800);

SATA/SAS/PCIe接口部(800),其形成有多个,根据由所述嵌入式处理器(500)生成的接口选择信号,由SATA、SAS、PCIe接口中的任意一个与存储器(10)连接,根据基于嵌入式处理器(500)的序列控制部(700)的控制,来控制多个存储器(10),以便能够测试所连接的各存储器(10),

其中,所述序列控制部(700)包括嵌入式处理器接口模块(710)和多个序列控制模块(720),所述嵌入式处理器接口模块(710)将从所述嵌入式处理器(500)接收的指令传输至序列控制模块(720);

其中,所述嵌入式处理器接口模块(710)根据接收的指令,生成对于各序列控制模块(720)的地址和对于存储器(10)的数据写入控制信号,根据该地址,向指定的序列控制模块(720)传输指令。

2.根据权利要求1所述的能够对多个存储器进行独立控制的测试装置,其特征在于,所述嵌入式处理器(500)通过所述数据引擎部(600)进行控制,以生成对应于用户的测试条件的测试模式,通过所述序列控制部(700)进行控制,以生成对于存储器(10)的数据写入指令,通过所述SATA/SAS/PCIe接口部(800)进行控制,根据欲测试的存储器(10)的接口类型来选择接口,以测试模式为基础,对存储器(10)进行测试,并接收其结果。

3.根据权利要求1所述的能够对多个存储器进行独立控制的测试装置,其特征在于,所述数据引擎部(600)包括:

模式数据生成模块(610),其根据从所述嵌入式处理器(500)接收的指令,生成写入存储器(10)的模式数据,向嵌入式处理器(500)、序列控制部(700)以及SATA/SAS/PCIe接口部(800)传输,并接收写入存储器(10)的模式结果数据;

指令生成模块(620),其根据从所述嵌入式处理器(500)接收的指令,生成用于控制SATA/SAS/PCIe接口部(800)的指令数据,向嵌入式处理器(500)、序列控制部(700)以及SATA/SAS/PCIe接口部(800)传输;

数据比较模块(630),其从所述SATA/SAS/PCIe接口部(800)接收写入存储器(10)的模式结果数据,按各信道比较通过所述模式数据生成模块(610)生成的模式数据,判定正常或故障后,存储其结果,将存储的信息通过通信接口部(300)和网络(200)传输至主终端(100)。

4.根据权利要求3所述的能够对多个存储器进行独立控制的测试装置,其特征在于,所述模式数据生成模块(610)从所述主终端(100)接收模式数据,从所述嵌入式处理器(500)接收模式数据选择信号。

5.根据权利要求1所述的能够对多个存储器进行独立控制的测试装置,其特征在于,

多个序列控制模块(720)分别与多个SATA/SAS/PCIe接口部(800)连接,在通过所述嵌入式处理器接口模块(710)接收指令的情况下,分别向多个SATA/SAS/PCIe接口部(800)传输指令。

6.根据权利要求5所述的能够对多个存储器进行独立控制的测试装置,其特征在于,所述嵌入式处理器接口模块(710)根据接收的指令,生成对于各序列控制模块(720)的地址和对于存储器(10)的数据写入控制信号,根据对应地址,向指定的序列控制模块(720)传输指令。

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