[发明专利]一种强激光取样衰减器

权利要求书

1.一种强激光取样衰减器，其特征在于：所述取样衰减器外形为柱状，包括漫反射取样板（1）、衰减腔板（2）、取样光散射板（3）、漫透射材料（4）、衰减底板（5）；

所述漫反射取样板（1）用于对非取样强激光进行漫反射；

所述漫反射取样板（1）上设置有通孔用于对入射激光束进行空间强度分布取样；

所述衰减腔板（2）上设置有衰减腔用于衰减和匀化取样强激光；

所述取样光散射板（3）用于对取样强激光进行漫反射；

所述漫透射材料（4）用于对发散匀化后的取样光再次进行取样；

所述衰减底板（5）上设置有通孔用于对漫透射取样激光再次进行衰减；

所述取样衰减器的上部设置有漫反射取样板（1），漫反射取样板（1）下部依次与衰减腔板（2）、取样光散射板（3）、衰减底板（5）固定连接；漫反射取样板（1）轴向设置有圆形的通孔Ⅰ（6）；衰减腔板（2）的上部轴向设置有圆形的通孔Ⅱ(7)，下部轴向设置有衰减腔（8）；所述的取样光散射板（3）的轴向设置有圆形通孔Ⅲ（9）；所述的衰减底板（5）的轴向设置有圆形通孔Ⅳ（10）；通孔Ⅱ（7）、通孔Ⅲ（9）分别与衰减腔（8）相通，且通孔Ⅱ（7）与通孔Ⅲ（9）为轴向平行设置；所述漫透射材料（4）置于取样光散射板（3）的通孔Ⅲ(9)中，漫透射材料（4）的上表面与取样光散射板（3）上的通孔Ⅲ(9)中的台阶平齐，漫透射材料（4）的下表面与衰减底板（5）的上表面平齐。

2.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的通孔Ⅰ（6）与通孔Ⅱ（7）为同轴心设置。

3.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的通孔Ⅲ(9)与通孔Ⅳ（10）为同轴心设置。

4.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的衰减腔（8）的形状为圆形或方形。

5.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的漫反射取样板（1）材料采用紫铜，在紫铜受光面先喷砂，后镀金，其余表面镀金。

6.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的衰减腔板（2）材料采用石墨或发黑铝。

7.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的取样光散射板（3）材料采用紫铜或铝，在紫铜或铝的受光面先喷砂，后镀金。

8.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的漫透射材料（4）为乳白玻璃或漫透射陶瓷。

9.根据权利要求1所述的强激光取样衰减器，其特征在于：所述的衰减底板（5）的材料为发黑铝。