[发明专利]一种强激光取样衰减器

说明书

技术领域

 本发明属于激光参数测量技术领域，具体涉及一种强激光取样衰减器。

背景技术

在强激光测量应用中，通常需要先用取样衰减器对激光束进行空间取样和衰减，现有技术的取样衰减器能承受一定的能量密度，但不能对持续时间数十秒的强激光进行取样和衰减。

发明内容

为了克服已有技术中激光取样衰减器不能对持续时间数十秒的强激光进行取样和衰减的不足，本发明提供了一种强激光取样衰减器，能够对功率密度达到10kW/cm²的强激光进行数十秒时间取样和衰减。

本发明是通过如下技术方案来实现的：  

本发明的一种强激光取样衰减器，其特点是，所述取样衰减器外形为柱状，包括漫反射取样板、衰减腔板、取样光散射板、漫透射材料、衰减底板。

所述漫反射取样板用于对非取样强激光进行95%以上漫反射；

所述漫反射取样板上设置有通孔用于对入射激光束进行空间强度分布取样；

所述衰减腔板上设置有衰减腔用于衰减和匀化取样强激光，通过改变衰减腔的结构尺寸能够调整衰减倍率；

所述取样光散射板用于对取样强激光进行漫反射；

所述漫透射材料用于对发散匀化后的取样光再次进行取样；

所述衰减底板上设置有通孔用于对漫透射取样激光再次进行衰减，通过调整通孔长度能够调整衰减倍率；

所述取样衰减器的上部设置有漫反射取样板，漫反射取样板下部依次与衰减腔板、取样光散射板、衰减底板固定连接；漫反射取样板轴向设置有圆形的通孔Ⅰ；衰减腔板的上部轴向设置有圆形的通孔Ⅱ，下部轴向设置有衰减腔；所述的取样光散射板的轴向设置有圆形通孔Ⅲ；所述的衰减底板的轴向设置有圆形通孔Ⅳ；通孔Ⅱ、通孔Ⅲ分别与衰减腔相通，且通孔Ⅱ与通孔Ⅲ为轴向平行设置，（即通孔Ⅱ与通孔Ⅲ在取样光散射板上的投影不相交）。所述漫透射材料置于取样光散射板的通孔Ⅲ中，漫透射材料的上表面与取样光散射板上的通孔Ⅲ中的台阶平齐，漫透射材料的下表面与衰减底板的上表面平齐。

所述的通孔Ⅰ与通孔Ⅱ为同轴心设置。

所述的通孔Ⅲ与通孔Ⅳ为同轴心设置。

所述的衰减腔的形状为圆形或方形。

所述的漫透射材料的直径大于通孔Ⅲ、通孔Ⅳ的直径。

所述的漫反射取样板材料采用经过特殊工艺处理的紫铜，特殊工艺为受光面先喷砂，后镀金，其余表面镀金。

所述的衰减腔板材料为石墨或发黑铝。

所述的取样光散射板材料采用经过特殊工艺处理的紫铜或铝，特殊工艺为受光面先喷砂，后镀金。

所述的漫透射材料为乳白玻璃或漫透射陶瓷。

所述的衰减底板的材料为发黑铝。

本发明使用具有高损伤域值的漫反射取样板来对非取样强激光进行95%以上漫反射，使用小孔对入射激光束进行空间取样，使用具有高损伤域值的取样光散射板来对高功率密度取样光进行漫反射，并使用石墨或发黑铝材料的柱形衰减腔来发散和匀化取样激光，使用漫透射材料和衰减通道对发散匀化后的激光进行再次取样和衰减，从而实现对强激光的取样和衰减。

本发明的强激光取样衰减器解决了持续时间数十秒、功率密度到达10kW/cm²的强激光常规方法无法直接取样和衰减的问题，对于强激光参数测量具有重要促进作用。 

附图说明

图1为本发明的强激光取样衰减器的结构示意图；

图中，1.漫反射取样板    2.衰减腔板     3.取样光散射板     4.漫透射材料     5.衰减底板     6.通孔Ⅰ     7.通孔Ⅱ     8.衰减腔     9.通孔Ⅲ     10.通孔Ⅳ。

具体实施方式

   以下结合附图和具体的实施例对本发明进行详细说明。

实施例1  

图1为本发明的强激光取样衰减器的结构示意图。在图1中，本发明的强激光取样衰减器外形为方形,包括漫反射取样板1、衰减腔板2、取样光散射板3、漫透射材料4、衰减底板5；

所述漫反射取样板1用于对非取样强激光进行95%以上漫反射；

所述漫反射取样板1上设置有通孔用于对入射激光束进行空间强度分布取样；

所述衰减腔板2上设置有衰减腔用于衰减和匀化取样强激光，通过改变衰减腔的结构尺寸能够调整衰减倍率；

所述取样光散射板3用于对取样强激光进行漫反射；

所述漫透射材料4用于对发散匀化后的取样光再次进行取样；