[发明专利]母衬底、其阵列测试方法及显示器衬底

权利要求书

1.一种母衬底，包括：

通过划线定义的显示器衬底单元，该显示器衬底单元包括多条栅线、驱动栅线的栅电路部分、以及连接至栅电路部分且包括多个栅焊盘的栅焊盘部分；

在围绕显示器衬底单元的周围区域中的栅测试焊盘部分，该栅测试焊盘部分被配置为接收栅测试信号；

栅测试线部分，连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分；以及

开关部分，连接至栅测试线部分并且被配置为控制栅测试线部分的导通和断开，

其中栅测试焊盘部分包括：

测试控制焊盘，被配置为接收控制开关部分的操作的测试控制信号，以及

多个栅测试焊盘，被配置为接收控制栅电路部分的操作的多个栅测试信号，

其中开关部分包括并行连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分的多个开关，其中一个开关包括并行连接一个栅测试焊盘和一个栅焊盘的多个开关元件，所述多个开关元件响应于测试控制信号而驱动，

其中每个开关元件包括串行相互连接的多个晶体管，所述多个晶体管共同响应于测试控制信号而驱动，以及

其中开关部分在相对于所述划线的显示器衬底单元的内部区域中，并且是电浮动的。

2.如权利要求1中所述的母衬底，其中开关部分在邻近于布置栅焊盘部分的区域的区域中。

3.如权利要求1中所述的母衬底，其中栅测试信号包括驱动该栅电路部分的多个时钟信号、多个OFF信号和至少一个垂直开始信号。

4.如权利要求1中所述的母衬底，其中该栅电路部分包括多个电路晶体管，每个电路晶体管具有氧化物半导体。

5.如权利要求1中所述的母衬底，其中该栅电路部分包括多个电路晶体管，每个电路晶体管具有非晶硅。

6.一种用于显示器衬底单元的母衬底的阵列测试方法，该显示器衬底单元具有多条数据线、多条栅线、驱动栅线的栅电路部分以及连接至栅电路部分的栅焊盘部分，所述阵列测试方法包括：

在显示器衬底单元的阵列测试过程期间，导通连接包括多个栅焊盘的栅焊盘部分和包括多个栅测试焊盘且接收栅测试信号的栅测试焊盘部分的栅测试线部分；

在阵列测试过程之前和之后断开该栅测试线部分；

在阵列测试过程期间导通开关部分；以及

在阵列测试过程之前和之后关断所述开关部分，该开关部分被连接至栅测试线部分，

其中开关部分包括并行连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分的多个开关，其中一个开关包括并行连接一个栅测试焊盘和一个栅焊盘的多个开关元件，

其中每个开关元件包括串行的多个晶体管，所述多个晶体管共同响应于测试控制信号而驱动，以及

其中开关部分在显示器衬底单元的内部区域中，并且是电浮动的。

7.如权利要求6中所述的阵列测试方法，进一步包括：

在阵列测试过程期间将导通开关部分的测试控制信号施加到测试控制焊盘；以及

在阵列测试过程之前和之后将关断所述开关部分的测试控制信号施加到测试控制焊盘，所述栅测试焊盘部分包括测试控制焊盘。

8.如权利要求6中所述的阵列测试方法，其中开关部分包括连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分的开关元件，并且所述开关元件包括串行的多个晶体管。

9.如权利要求6中所述的阵列测试方法，进一步包括在阵列测试过程期间将数据测试信号施加到连接至数据线的数据焊盘部分。

10.一种显示器衬底，包括：

被布置在显示区域中的多条栅线；

与栅线交叉的多条数据线；

被布置在围绕显示区域的周围区域中并且被配置为驱动栅线的栅电路部分；

连接至栅电路部分并且被配置为包括多个栅焊盘和接收栅驱动信号的栅焊盘部分；以及

被布置为邻近于栅焊盘部分并且连接至栅焊盘部分的开关部分，

其中开关部分包括并行相互连接的多个开关，其中一个开关包括并行连接一个栅焊盘的多个开关元件，并且每个开关元件包括串行相互连接的多个晶体管，所述多个晶体管共同响应于测试控制信号而驱动，以及

其中开关部分在显示器衬底的内部区域中，并且是电浮动的。